MVI是一種模擬和拓展人類(lèi)眼、腦、手的功能的一種技術(shù)，在不同的應(yīng)用領(lǐng)域其定義可能有著細(xì)微的差別，但都離開(kāi)不了兩個(gè)根本的方法與技術(shù)，即從圖像中獲取所需信息，然后反饋給自動(dòng)化執(zhí)行機(jī)構(gòu)完成特定的任務(wù)?？梢哉f(shuō)基于任何圖像傳感方法（如可見(jiàn)光成像、紅外成像、超聲成像等等）的自動(dòng)化檢測(cè)技術(shù)都可以認(rèn)為是MVI或AVI。當(dāng)采用光學(xué)成像方法時(shí)，MVI實(shí)際上就變?yōu)锳OI。因此AOI可以認(rèn)為是MVI的一種特例。

用于表面缺陷檢測(cè)的AOI系統(tǒng)不能在檢測(cè)過(guò)程中，給被測(cè)件表面帶來(lái)缺陷（如粉塵、劃傷、靜電等）。因此，石景山金手指臟污檢測(cè)，對(duì)于大型零件（如高世代的液晶玻璃基板、硅片等）的在線檢測(cè)，常常需要采取氣浮支撐、定位與傳輸機(jī)構(gòu)，運(yùn)動(dòng)部件（如軸承等）采用自潤(rùn)滑器件，以及利用FFU風(fēng)機(jī)過(guò)濾機(jī)組對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行環(huán)境凈化，金手指臟污檢測(cè)廠家，并采取消靜電裝置，對(duì)工件進(jìn)行防靜電處理。

線陣相機(jī)是逐行掃描方式取像，金手指臟污檢測(cè)設(shè)備，面陣相機(jī)的優(yōu)點(diǎn)是圖像的還原性較好，打光角度容易調(diào)整，還容易得到較清晰的圖像，因而市面上的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀絕大多數(shù)廠商使用這類(lèi)相機(jī)。線陣相機(jī)的圖像還原性較差，打光的角度難以調(diào)整，是目前誤判率高的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀，金手指臟污檢測(cè)價(jià)錢(qián)，采用這類(lèi)相機(jī)的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的唯①優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)的速度相對(duì)快一點(diǎn)，但檢測(cè)小板時(shí)它的檢測(cè)速度又要相對(duì)而言慢一些，因此，對(duì)相機(jī)的選擇應(yīng)該盡量選擇面陣相機(jī)。

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