單片機(jī)系統(tǒng)EMC測(cè)試

(1)測(cè)試環(huán)境

為了保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確和可靠性，電磁兼容性測(cè)量對(duì)測(cè)試環(huán)境有較高的要求，加固計(jì)算機(jī)浪涌測(cè)試，測(cè)量場(chǎng)地有室外開(kāi)闊場(chǎng)地、*室或電波暗室等。

(2)測(cè)試設(shè)備

電磁兼容測(cè)量設(shè)備分為兩類(lèi)：一類(lèi)是電磁干擾測(cè)量設(shè)備，設(shè)備接上適當(dāng)?shù)膫鞲衅?，就可以進(jìn)行電磁干擾的測(cè)量;另一類(lèi)是在開(kāi)關(guān)電源模塊電磁敏感度測(cè)量，MTD2002設(shè)備模擬不同干擾源，通過(guò)適當(dāng)?shù)鸟詈?去耦網(wǎng)絡(luò)、傳感器或天線，施加于各類(lèi)被測(cè)設(shè)備，用作敏感度或干擾度測(cè)量。

(3)測(cè)量方法

電磁兼容性測(cè)試依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的不同，浪涌測(cè)試，有許多種測(cè)量方法，但歸納起來(lái)可分為4類(lèi);傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試、輻射發(fā)射測(cè)試、傳導(dǎo)敏感度(抗擾度)測(cè)試和輻射敏感度(抗擾度)測(cè)試。

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電磁兼容檢測(cè)的測(cè)試準(zhǔn)備

①試驗(yàn)場(chǎng)地條件：EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室為電波半暗室和*室。前者用于輻射發(fā)射和輻射敏感測(cè)試，后者用于傳導(dǎo)發(fā)射和傳導(dǎo)敏感度測(cè)試。

②環(huán)境電平要求：傳導(dǎo)和輻射的電磁環(huán)境電平盡量遠(yuǎn)低于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限值，一般使開(kāi)關(guān)電源模塊環(huán)境電平至少低于極限值6dB。

③試驗(yàn)桌。

④測(cè)量設(shè)備和被測(cè)設(shè)備的隔離。

⑤敏感性判別準(zhǔn)則：一般由被測(cè)方提供，并實(shí)話監(jiān)視和判別，以測(cè)量和觀察的方式確定性能降低的程度。

⑥被測(cè)設(shè)備的放置：為保證實(shí)驗(yàn)的重復(fù)性，加固筆記本浪涌測(cè)試，對(duì)被測(cè)設(shè)備的放置方式通常有具體的規(guī)定。

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電磁兼容檢測(cè)

電磁兼容性 (EMC) 測(cè)試需要詳細(xì)且準(zhǔn)確的方法，以保證所有的輻射都能被準(zhǔn)確測(cè)量。過(guò)長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間影響了實(shí)驗(yàn)室的效率，減少了可認(rèn)證的設(shè)備數(shù)目，影響了測(cè)試業(yè)務(wù)的收入，或是不通過(guò)第三方而由公司內(nèi)部測(cè)試的新產(chǎn)品數(shù)目。

要增加收入，而不增加過(guò)多費(fèi)用來(lái)購(gòu)買(mǎi)新測(cè)試設(shè)備，公司必須縮短 EMC產(chǎn)品測(cè)試周期 — 包括設(shè)備搭建，掃描，轉(zhuǎn)臺(tái)的旋轉(zhuǎn)，和天線高度調(diào)整時(shí)間 — 從而較大化現(xiàn)有的兼容性測(cè)試設(shè)備的測(cè)試能力。時(shí)域掃描技術(shù)可以顯著減少接收機(jī)的掃描時(shí)間，YY0505浪涌測(cè)試，縮短總體測(cè)試時(shí)間，幫助提高業(yè)務(wù)收入，加快新產(chǎn)品上市速度。

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