第二塊光柵放置在塔爾博特長度的一小段距離（dT）處，用于分析干涉圖樣（圖 11）。該技術(shù)可直接記錄X 射線相移，從而獲得樣品折射率的測量值，并為小相位梯度或平滑相位梯度提供佳結(jié)果。

有兩種方法可以區(qū)分信號的不同貢獻(xiàn)：相位步進(jìn)技術(shù)和利用莫埃紋的方法。

這兩種方法都可用于獲取平面圖像和斷層成像圖像，并能產(chǎn)生復(fù)折射率的實分量和虛分量信息。

所述裝置通常用于同步設(shè)施，因為它要求 X 射線束具有高度的空間相干性。不過，GI方法也可以在傳統(tǒng)的X射線管中使用，使用第三個附加光柵，即 Talbot-Lau 干涉儀。

傳統(tǒng)的多色 X 射線源可以通過相位步進(jìn)配置有效地使用，因為在很寬的 X 射線能量范圍內(nèi)，源光柵后面產(chǎn)生的干涉條紋的位置與波長無關(guān)。

相反，摩爾紋配置允許使用適度的多色性，因為能量帶寬過寬會降低摩爾紋的可見度，并惡化圖像質(zhì)量。

第二種相互作用，即康普頓散射。在這種情況下，X射線光子會將電子從原子中釋放出來，并在散射過程中失去部分初始能量。這種相互作用會產(chǎn)生一個散射光子和一個正離子。根據(jù)光子能量和樣品成分的不同，光子可以偏轉(zhuǎn)0到180°的任意角度。

在相干散射中，不存在電離過程。因此，散射光子與初始光子具有相同的能量。

這三種相互作用的總體結(jié)果是，雙能x射線骨密度，穿過材料的X射線光子要么被吸收，要么被散射。散射不利于CT圖像的形成，因為它會增加噪聲水平。

成像光束線由用于光束、聚焦/離焦、過濾和單色化的多個組件組成。硬X射線成像光束線的實驗站一般距離光源較遠(yuǎn)，通常是根據(jù)研究的樣品設(shè)計和配備的，以處理特定的實驗，同時考慮到光子通量、能量范圍、聚焦和X射線準(zhǔn)直。SR光束的特點(diǎn)是高度的空間相干性；這就允許利用傳輸X射線波產(chǎn)生的相移（phase shift ）效應(yīng)作為形成圖像的進(jìn)一步機(jī)制。

與X射線管相反，同步本身具有層狀、鄰行的幾何形狀，因此探測器上的物體放大率很低，散射對圖像形成的影響可以忽略不計。單色X射線的使用使光束硬化假象變得可以忽略不計，是提取樣品定量信息（如成分、密度、形態(tài)等）的基礎(chǔ)。

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