常見電磁兼容干擾問題

設(shè)備內(nèi)部線路的相互藕合問題 

在高頻狀態(tài)下，設(shè)備內(nèi)部線路之間會(huì)有一個(gè)相互藕合的問題，傳導(dǎo)發(fā)射整改服務(wù)機(jī)構(gòu)，因此線路的布局不當(dāng)，特別是對(duì)患者檢測(cè)信號(hào)輸入線路的布局不當(dāng)，常常是導(dǎo)致醫(yī)1療設(shè)備設(shè)計(jì)成敗的兩種截然不同的結(jié)果的直接原因。 在處理設(shè)備的電磁兼容上出現(xiàn)的問題時(shí)，常常會(huì)將電感器或鐵氧體磁芯置于線路的輸入與輸出之間，傳導(dǎo)發(fā)射整改公司，用以抑制設(shè)備內(nèi)部和外部的射頻干擾，傳導(dǎo)發(fā)射整改，這樣一來就使朝向噪聲源這一端的電感器帶有相當(dāng)大的高頻電壓。這種高頻電壓可通過電容性的耦合而作用到附近的金屬性物質(zhì)上，如接地層、電路板、散熱器等。因此，在采用這種處理干擾的抑制方案時(shí)要十分小心，要避免與一些敏感器件或敏感電路產(chǎn)生耦合。 另外，在用鐵氧體磁芯吸收線路上的干擾時(shí)，將鐵芯體磁芯放在連接線路的外部要比把它布放在電路板的效果會(huì)明顯一些。因?yàn)檫@種方式可避免干擾在磁芯后面的連接線路與敏感線路的耦合問題。

電磁兼容(EMC)整改

將桌子轉(zhuǎn)到待測(cè)（EUT）大發(fā)射的位置﹐初步診斷可能的原因﹐并關(guān)掉EUT電源加以確認(rèn)。

由于EMI測(cè)試上﹐EUT必須轉(zhuǎn)360度而天線由1m到4m變化﹐其目的是要記錄輻射大的情況。同樣地﹐當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)無法通過測(cè)試時(shí)﹐首先我們先將天線位置移到噪聲接收大高度﹐然后將桌子轉(zhuǎn)到差角度﹐此時(shí)我們知道在EUT面對(duì)天線的這一面輻射強(qiáng)﹐故可以初步推測(cè)可能的原因﹐如此處*不佳或靠近輻射源或有電線電纜經(jīng)過等。

另外須注意的是要關(guān)掉EUT的電源﹐看噪聲是否存在﹐以確定噪聲確實(shí)是由EUT所產(chǎn)生。曾見測(cè)試Monitor一直無法解決某一點(diǎn)的干擾﹐結(jié)果其噪聲是由PC所造成而非Monitor的問題﹐亦有在OPEN SITE測(cè)試Monitor發(fā)現(xiàn)某幾點(diǎn)無法通過﹐由測(cè)試接收儀器的聲音判斷應(yīng)是Monitor產(chǎn)生﹐結(jié)果關(guān)掉電源發(fā)現(xiàn)噪聲依然存在﹐所以關(guān)掉EUT電源的步驟是必須的﹐而且通常容易被忽略。

電磁兼容初步診斷步驟

整理的一套 EMI 診斷上的步驟﹐希望用系統(tǒng)的方式﹐快速的找出 EMI 的問題。這里并不準(zhǔn)備探討一些理論計(jì)算或公式推演﹐將從實(shí)務(wù)上說明。

當(dāng)一個(gè)產(chǎn)品無法通過 EMI 測(cè)試﹐首先就要有一個(gè)觀念﹐找出其問題點(diǎn)﹐此時(shí)千萬不能有主觀的念頭﹐要在那些地方下對(duì)策。常常有許多有經(jīng)驗(yàn)的 EMI 工程師﹐由于修改過許多相關(guān)產(chǎn)品﹐對(duì)于產(chǎn)品可能造成 EMI 問題的地方也非常了解﹐而習(xí)慣直接就下藥1方﹐當(dāng)然一般可能非常有效，但是偶而也會(huì)遇到?jīng)]效果的﹐后發(fā)現(xiàn)問題的關(guān)鍵都是之前認(rèn)為不可能的地方 ，之所以會(huì)出現(xiàn)這種情況﹐就是由于太主觀了。因此﹐不論產(chǎn)品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認(rèn)一次 ﹐甚至多次確認(rèn)。這是因?yàn)樵斐?EMI 的問題往往是錯(cuò)綜復(fù)雜﹐并非單一點(diǎn)所造成。故反復(fù)的做確認(rèn)及診斷是非常重要的。

將初步的診斷步驟詳列于下﹐并加以說明其關(guān)鍵點(diǎn)﹐這些步驟看來似乎非常平凡簡(jiǎn)單﹐不像介紹對(duì)策方法各種理論秘籍絕招層出不窮﹐變化奧妙。其實(shí)﹐許多資1深 EMI 工程師在其對(duì)策處理時(shí)﹐大部份的時(shí)間都在重復(fù)這些步驟與判斷。筆者要再次強(qiáng)調(diào)﹐只有真正找到造成 EMI 問題的關(guān)鍵﹐才是解決 EMI 的較佳途徑﹐若僅憑理論推測(cè)或經(jīng)驗(yàn)判斷﹐有時(shí)反而會(huì)花費(fèi)更多的時(shí)間和精力。

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