測(cè)井設(shè)備的井下儀器功能

井下儀器的探測(cè)能力取決于它的徑向探測(cè)深度和縱向分辨率，這兩者是相互矛盾的。從探測(cè)原狀地層真實(shí)參數(shù)的目的，我們希望深的探測(cè)深度，減小井孔和侵入帶的影響，但這勢(shì)必又會(huì)增加圍巖的影響而降低縱向分辨能力。反之，從探測(cè)薄層和了解地層微細(xì)變化的目的，我們又希望高的縱向分辨率，但這時(shí)井孔及侵入帶的影響又會(huì)相對(duì)增加而降低探測(cè)深度。要同時(shí)滿足這兩方面的要求比較困難。

測(cè)井設(shè)備的歷史

測(cè)井設(shè)備先后經(jīng)歷了從模擬系統(tǒng)（20世紀(jì)50～60年代），山西測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)處理解釋?zhuān)綌?shù)字系統(tǒng)（20世紀(jì)70年代）再到數(shù)控系統(tǒng)（20世紀(jì)80～90年代）和成像系統(tǒng)（20世紀(jì)90年代）幾個(gè)發(fā)展階段。目前，測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)處理解釋系統(tǒng)，應(yīng)用廣泛的是數(shù)控測(cè)井系統(tǒng)，其井下和地面儀器設(shè)備的構(gòu)成及大體功能如下。

井下儀器目前，數(shù)控測(cè)井系統(tǒng)的下井儀器已多達(dá)數(shù)十種，測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)處理解釋廠家，其中常用的也有二三十種之多。不同的下井儀器具有不同的探測(cè)原理，測(cè)得的地層物理特性也不相同。

測(cè)井設(shè)備的時(shí)深數(shù)據(jù)的處理方法

獲取使用測(cè)井設(shè)備進(jìn)行測(cè)井操作時(shí)的鉆具運(yùn)動(dòng)狀態(tài)數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)采樣時(shí)間；根據(jù)鉆具運(yùn)動(dòng)狀態(tài)數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)采樣時(shí)間確定操作窗口時(shí)間；使用預(yù)先獲取的視頻數(shù)據(jù)對(duì)操作窗口時(shí)間進(jìn)行修正處理，測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)處理解釋設(shè)備，得到第二操作窗口時(shí)間；基于第二操作窗口時(shí)間、測(cè)井設(shè)備的屬性數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)采樣時(shí)間，獲取時(shí)深數(shù)據(jù)。通過(guò)本發(fā)明，解決了現(xiàn)有技術(shù)中存儲(chǔ)式測(cè)井深度跟蹤方法獲得時(shí)深數(shù)據(jù)效率低、準(zhǔn)確率低的問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)獲取時(shí)深數(shù)據(jù)、提高了效率及準(zhǔn)確率的效果。

北京中地英捷有限公司-山西測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)處理解釋由北京中地英捷物探儀器研究所有限公司提供。北京中地英捷物探儀器研究所有限公司位于北京市昌平區(qū)南邵鎮(zhèn)企業(yè)墅上區(qū)2-2中地英捷。在市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)的浪潮中拼博和發(fā)展，目前中地英捷在其它中享有良好的聲譽(yù)。中地英捷取得全網(wǎng)商盟認(rèn)證，標(biāo)志著我們的服務(wù)和管理水平達(dá)到了一個(gè)新的高度。中地英捷全體員工愿與各界有識(shí)之士共同發(fā)展，共創(chuàng)美好未來(lái)。