檢測下限是選擇分析方法的重要因素。樣品檢測下限不僅與方法檢測下限有關(guān)，而且與空白樣品中空白含量以及空白波動情況有關(guān)。只有當(dāng)空白含量為零時(shí)，樣品檢測下限等于方法檢測下限。然而，電子儀器計(jì)量檢測單位，空白含量往往不等于零，空白大小受環(huán)境對樣品的污染，試劑純度、水質(zhì)純度、容器的質(zhì)地及操作等因素的影響。因此，由外推法可求得方法檢測下限可能很低，但由于空白含量的存在，以及空白含量的波動，樣品檢測下限可能要比方法檢測下限大得多。從實(shí)用中考慮，樣品檢測下限較為有用和切合實(shí)際。

定量限(Limit ofQuantitation， LOQ)

被測組分的濃度能產(chǎn)生比空白足夠大的信號，電學(xué)計(jì)量檢測公司，這個(gè)信號能夠被良好實(shí)驗(yàn)室在常規(guī)操作條件下以的置信水平定量檢出，這個(gè)濃度就是定量限。一般以產(chǎn)生10倍試劑空白的標(biāo)準(zhǔn)偏差的信號所對應(yīng)的濃度作為定量限。LOQ隨介質(zhì)、分析方法和分析對象的不同而不同。

儀器的測定下限和方法的測定下限，檢出限只能粗略的表征體系性能，僅是一種定性的判斷依據(jù)，電學(xué)計(jì)量檢測機(jī)構(gòu)，通常不能用于真實(shí)分析。測定下限則是痕量或微量分析定量測定的特征指標(biāo)。

先確定計(jì)量器具的檢定、校準(zhǔn)的要求。非強(qiáng)制檢定計(jì)量器具的檢定方式，由企業(yè)根據(jù)生產(chǎn)和科研的需要，合肥計(jì)量檢測，可以自行決定在本單位校準(zhǔn)或者送其他計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)檢定、測試、校準(zhǔn)。企業(yè)使用的高計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器具，以及用于貿(mào)易結(jié)算、安全防護(hù)、醫(yī)1療衛(wèi)生、環(huán)境監(jiān)測方面列入強(qiáng)制檢定目錄的工作計(jì)量器具，應(yīng)當(dāng)進(jìn)行強(qiáng)制檢定。選擇符合要求的第三方檢定機(jī)構(gòu)。把儀器廠家的校準(zhǔn)要求發(fā)給第三方校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)，讓第三方校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)確認(rèn)是否具備校準(zhǔn)能力（這是ISO/IEC17025：2017標(biāo)準(zhǔn)要求的）。

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