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CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的主要用途有:
1:利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長度;
2:利用50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角;
3:利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;
4:利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;
5:利用25mm厚 度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;
6:利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;
7:利用50、44和40mm三個(gè)臺階孔測定斜探頭分辨力。
無損檢測試塊是質(zhì)量的保證的關(guān)鍵組成部分。它們被用來校準(zhǔn)和驗(yàn)證無損檢測設(shè)備,確保這些設(shè)備能夠準(zhǔn)確、有效地對產(chǎn)品進(jìn)行檢測。無損檢測試塊為我們提供了一種基準(zhǔn),可以根據(jù)這個(gè)基準(zhǔn)來判斷產(chǎn)品的質(zhì)量。
校準(zhǔn)設(shè)備:無損檢測試塊用于校準(zhǔn)無損檢測設(shè)備,確保設(shè)備的準(zhǔn)確性和一致性。在開始任何新的無損檢測程序之前,使用已知特性的試塊來校準(zhǔn)設(shè)備是很重要的。這些試塊通常具有特定的物理或材料特性,如厚度、硬度或成分。通過將設(shè)備的讀數(shù)與試塊的已知特性進(jìn)行比較,可以驗(yàn)證設(shè)備的性能。
1. 確定原試塊的孔徑尺寸和平底孔形狀。根據(jù)制造標(biāo)準(zhǔn)中的規(guī)定,確定原試塊的孔徑尺寸和平底孔形狀,以備后續(xù)計(jì)算使用。
2. 計(jì)算新試塊的孔徑尺寸。根據(jù)平底孔直徑3到直徑2的換算關(guān)系,計(jì)算新試塊的孔徑尺寸。具體計(jì)算方法可參考制造標(biāo)準(zhǔn)中的相關(guān)規(guī)定。
3. 制作新試塊。根據(jù)計(jì)算得到的新試塊的孔徑尺寸和平底孔形狀,制作新試塊。在制作過程中需要注意保證精度和質(zhì)量,超聲試塊,以避免對無損檢測結(jié)果造成影響。
4. 驗(yàn)證新試塊的精度。在進(jìn)行換算時(shí),需要注意保證新試塊的精度和質(zhì)量符合制造標(biāo)準(zhǔn)和檢測要求。一般來說,需要進(jìn)行精度驗(yàn)證,如采用測量儀器或量具進(jìn)行測量和校準(zhǔn)等。
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