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鹽城回收芯片電子誠信企業(yè)「在線咨詢」

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發(fā)布時間:2020-08-05 02:09  

我公司從事機關及企事業(yè)單位淘汰報廢電子電器產品和各類生產性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機排線,手機板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。在檢測BGA器件缺陷過程中,電子測試僅能確認在BGA連接時,判斷導電電流是通還是斷。

電子元器件發(fā)展史其實就是一部濃縮的電子發(fā)展史。電子技術是十九世紀末、二十世紀初開始發(fā)展起來的新興技術,二十世紀發(fā)展迅速,應用廣泛,成為近代科學技術發(fā)展的一個重要標志。


我公司從事機關及企事業(yè)單位淘汰報廢電子電器產品和各類生產性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機排線,手機板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實際阻值,并與標稱阻值相對比,二者相差在±2Ω內即為正常。



故障特點 /電子元器件

電器設備內部的電子元器件雖然數量,但其故障卻是有規(guī)律可循的。

半導體器件損壞特點

二、三極管的損壞是PN結擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現:一是熱穩(wěn)定性變差,表現為開機時正常,工作一段時間后,發(fā)生軟擊穿;為了適應這一發(fā)展要求,一些先進的高密度封裝技術應運而生,BGA封裝技術就是其中之一。另一種是PN結的特性變差,用萬用表R×1k測,各PN結均正常,但上機后不能正常工作,用R×10或R×1低量程檔測,就會發(fā)現其PN結正向阻值比正常值大。測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量,較準確的方法是:將萬用表置R×10或R×1檔(用R×10檔,不明顯時再用R×1檔)在路測二、三極管的PN結正、反向電阻,正向電阻不太大(正常值),反向電阻足夠大(正向值),表明該PN結正常,反之就值得懷疑,需焊下后再測。這是電路的二、三極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐,用萬用表低阻值檔在路測量,可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。



我公司從事機關及企事業(yè)單位淘汰報廢電子電器產品和各類生產性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機排線,手機板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。BGA技術采用的是一種全新的設計思維方式,它采用將圓型或者柱狀點隱藏在封裝下面的結構,引線間距大、引線長度短。


裝材料的不同,BGA元器件主要有以下幾種:PBGA(plastic BGA,塑料封裝的BGA);CBGA(ceramic BGA,陶瓷封裝的BGA);CCBGA(ceramic column BGA,陶瓷柱狀封裝的BGA);TBGA(tape BGA,載帶狀封裝的BGA);電容容量的大小就是表示能貯存電能的大小,電容對交流信號的阻礙作用稱為容抗,它與交流信號的頻率和電容量有關。CSP(ship scale package或μBGA)


我公司從事機關及企事業(yè)單位淘汰報廢電子電器產品和各類生產性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機排線,手機板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。PBGA(塑膠焊球陣列)封裝PBGA(PlasticBallGridArray),它采用BT樹脂/玻璃層壓板作為基板,以塑膠(環(huán)氧模塑混合物)作為密封材料,焊球可分為有鉛焊料(63Sn37Pb、62Sn36Pb2Ag)和無鉛焊料(Sn96。


再流焊接

設置焊接溫度可根據器件的尺寸,PCB的厚度等具體情況設置,BGA的焊接溫度與傳統(tǒng)SMD相比,要高出15度左右。

檢驗

BGA的焊接質量檢驗需要X光或超聲波檢查設備,在沒有檢查設備的的情況下,可通過功能測試判斷焊接質量,也可憑經驗進行檢查。把焊好的BGA的表面組裝板舉起來,對光平視BGA四周,觀察是否透光、BGA四周與PCB之間的距離是否一致、觀察焊膏是否完全融化、焊球的形狀是否端正、焊球塌陷程度等。如果不透光,說明有橋接或焊球之間有焊料球;如果焊球形狀不端正,有歪扭現象,說明溫度不夠,焊接不充分,焊料再流動時沒有充分的發(fā)揮自定位效應的作用;在電路中,當熔斷電阻器熔斷開路后,可根據經驗作出判斷:若發(fā)現熔斷電阻器表面發(fā)黑或燒焦,可斷定是其負荷過重,通過它的電流超過額定值很多倍所致。焊球塌陷程度:塌陷程度與焊接溫度、焊膏量、焊盤大小有關。在焊盤設計合理的情況下,再流焊后BGA底部與PCB之間距離比焊前塌陷1/5-1/3屬于正常。如果焊球塌陷太大,說明溫度過高,容易發(fā)生橋接。如果BGA四周與PCB之間的距離是不一致說明四周溫度不均勻。


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