漫反射板

F4目標(biāo)板具有接近于 0.99 的高反射率，光譜平坦性，近似余弦分布的雙向反射分布函數(shù)，較高的面均勻性，以及較小的紫外真空影響。因此，F(xiàn)4目標(biāo)板滿足激光慣性約束聚變中近背向散射光的測量需求，采用漫反射板收集近背向散射光的方法可行。漫反射標(biāo)準(zhǔn)板批發(fā)

測定遙感器投影中心到地面距離的激光掃描儀；姿態(tài)測量系統(tǒng)ＩＭＵ、數(shù)碼相機等光譜成像設(shè)備。激光掃描測距儀，通過向目標(biāo)地物發(fā)射電磁脈沖，利用脈沖從發(fā)射到返回的傳播時間，來計算掃描目標(biāo)區(qū)域地物的高程、坡度，以及地表面的粗糙度和反射率等數(shù)據(jù)。同時飛行平臺上搭載的多媒體成像設(shè)備，作為…種被動遙感技術(shù)，又可通過光電轉(zhuǎn)換來獲取目標(biāo)物體的高分辨率遙感影像數(shù)據(jù)。高程數(shù)據(jù)經(jīng)過軟件的后處理轉(zhuǎn)化為激光點云的位置漫反射標(biāo)準(zhǔn)板批發(fā)

激光雷達(dá)目標(biāo)散射特性的實驗研究對激光雷達(dá)散射截面及目標(biāo)成像的研究具有重要意義。在定義激光雷達(dá)散射截面時一般要求目標(biāo)為漫反射體,并且在各類標(biāo)準(zhǔn)目標(biāo)散射截面計算時也是將目標(biāo)視為朗伯體。漫反射標(biāo)準(zhǔn)板批發(fā)

通過不同材料對1.06μm激光雷達(dá)散射特性的研究可了解其各自的漫反射特性,它在各類材料中對確定接近朗伯體的目標(biāo),完成朗伯體定標(biāo)提供了必要的實驗依據(jù),同時也為完成激光雷達(dá)散射截面的實驗測量工作奠定了基礎(chǔ)。漫反射標(biāo)準(zhǔn)板批發(fā)

材料表面的反射情況與表面粗糙度有關(guān)。通常把粗糙度遠(yuǎn)大于入射光波長的表面叫粗糙表面,其反射稱為漫反射;遠(yuǎn)小于入射光波長的表面叫光滑表面,其反射基本上是鏡反射;介于二者之間是混合反射。 

響應(yīng)度是表征整個光譜輻射計系統(tǒng)，包括光學(xué)系統(tǒng)、探測系統(tǒng)及放大系統(tǒng)的一個量。定標(biāo)也就是建立在給定能量時，光譜輻射計系統(tǒng)所對應(yīng)的輸出關(guān)系。漫反射標(biāo)準(zhǔn)板批發(fā)

打開標(biāo)準(zhǔn)燈預(yù)熱至穩(wěn)定狀態(tài)。通過改變標(biāo)準(zhǔn)燈與漫反射板之間的距離來改變進(jìn)入儀器的光輻射亮度。漫反射標(biāo)準(zhǔn)板批發(fā)

定標(biāo)漫反射板在光譜儀光路反射太陽光，通過已知的大氣外太陽照度和漫反射板的雙向反射分布函數(shù)BRDF確立輻亮度標(biāo)準(zhǔn)。定標(biāo)漫反射板的BRDF需要在實驗室進(jìn)行測量。在光譜儀整機狀態(tài)下使用太陽模擬器和標(biāo)準(zhǔn)漫反射板進(jìn)行定標(biāo)漫反射板實驗室系統(tǒng)級BRDF測量的方法，對使用定標(biāo)漫反射板系統(tǒng)級BRDF進(jìn)行星上輻射定標(biāo)時的輻射定標(biāo)精度進(jìn)行了分析，輻射定標(biāo)精度能夠滿足≤5%的指標(biāo)要求。

在星上輻射定標(biāo)中，漫反射板星上太陽定標(biāo)方法是被廣泛認(rèn)可的高精度定標(biāo) 方 法，Sea Wi FS、MODIS 、MERIS 、OMI等星上遙感 器 相 繼 采 用 這 種星上定標(biāo)方法。