一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

測試面積是測厚儀器的一項很重要的參數(shù)，主要由準直器控制組成，但也受其它條件限制：

    1、受高壓、光管限制，因為需要這兩裝置提供足夠熒光強度和聚焦。

    2、受儀器結構限制，相同的準直器因安裝的位置及與探測器的角度都影響測量面積，同樣是直徑0.2mm準直器Thick800A測量面積達到直徑0.4mm，EDX1800B測量面積達到直徑0.5mm，CMI900測量面積達到0.3mm,而XTU-A面積可以達到0.218.

江蘇一六儀器   X射線熒光鍍層測厚儀

儀器簡介

      XTU系列測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。

    搭配微聚焦射線管和先進的光路設計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。

    檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·測量面積可達0.002mm2·深凹槽可達90mm。

     外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都沒有難度，讓操作人員輕松自如。

  線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

  鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

  手表、精密儀表制造行業(yè)

  釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測

  衛(wèi)浴產品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  電鍍液的金屬陽離子檢測

江蘇一六儀器   X熒光鍍層測厚儀  一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯(lián)系！

1X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-標準75W(4-50kV，0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘

2濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片:3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

3準直器程控交換系統(tǒng)多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制多種規(guī)格尺寸準直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)

5X射線探測系統(tǒng)封氣正比計數(shù)器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6樣品室CMI900CMI950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

選擇Elite（一六儀器）X射線熒光鍍層測厚儀理由：

   根據(jù)IPC規(guī)程，必須使用整塊的標準片來校正儀器，對于多鍍層的測量，目前大多數(shù)客戶購買的測厚儀采用的是多種箔片疊加測量校正，比如測量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因為測量點很小，測量距離的變化對測量結果有較大影響，如果使用Au，Pd，Ni三種箔片疊加校正，校正的時候箔片之間是有空氣，并且Pb元素與空氣的頻譜重疊，以上會對測量結果產生較大影響，Elite（一六儀器）測厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/base標準片，不需要幾種箔片疊加校正，可以確保鍍層測量的準確性。當特征X射線光子進入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離，產生若干電子-空穴對，其數(shù)量與光子的能量成正比。

2、采用微聚焦X射線管，油槽式設計，工作時采用油冷，長期使用時壽命更長。微聚焦X射線管配合比例接收能實現(xiàn)高計數(shù)率，可以進行測量。

3、Elite（一六儀器）WinFTM專用軟件，具有強大且界面友好、中英文切換，多可同時測量23層鍍層，24種元素，測量數(shù)據(jù)可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。采用基本參數(shù)法（FP），有內置頻譜庫，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確的分析和測量。不要用任何機械或化學的方法清除調校片上的臟物,可以用不起毛的布輕輕擦拭。

4、 Elite（一六儀器）針對PCB（印制電路板）線路板上的鍍層厚度及分析而設計的X射線熒光測厚儀（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特點：1）工作臺有手動和程序控制供客戶選擇，2）采用開槽式設計和配置加長型樣品平臺，用于檢測大尺寸的線路板。002m㎡最深凹槽20mm以上鍍層厚度分析儀使用注意事項1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。