手持式光譜儀介紹

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。

手持式光譜儀的作用

Vanta Element手持式X射線熒光（XRF）光譜儀可以對元素進(jìn)行分析，并可在一秒鐘內(nèi)對合金進(jìn)行牌號辨別和分揀，并在屏幕上顯示牌號比較信息，有助于土地的重金屬元素鑒別。 

Vanta手持式光譜儀的各種特性可以在很大程度上提高用戶的分析量，并使數(shù)據(jù)歸檔操作簡單易行，為土地重金屬的檢測帶去直觀明了的顯示，也為更好的保護(hù)地球提供了科學(xué)的輔助。

手持式光譜儀的特點

有效檢測，精準(zhǔn)識別：在對材料進(jìn)行分揀的過程中，龐大的數(shù)據(jù)量以及雜亂的材料常常導(dǎo)致檢測的開展十分緩慢。VANTA Element-S分析儀配備硅漂移探測器（SDD），可對元素進(jìn)行分析，并在幾秒內(nèi)對合金進(jìn)行牌號辨別和分揀，能夠快速有效地測量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量。 

完成對樣品的檢測之后，屏幕上會顯示出清晰的牌號ID，以及鎂、鋁和硅等輕元素的比較信息。同時，分析儀的SDD探測器可以區(qū)分類似303和304不銹鋼、6061和1100鋁等相似的牌號，精準(zhǔn)完成識別。