三維形貌測(cè)量?jī)x對(duì)于樣品表面特性研究案例

材料科學(xué)的目標(biāo)是研究材料表面結(jié)構(gòu)對(duì)于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析表面形貌對(duì)確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。

符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的NanoFocus測(cè)量系統(tǒng)適用于各種不同材料的測(cè)量需求，滿足滿足規(guī)格要求并使工藝流程優(yōu)化，這意味著在縮短開發(fā)時(shí)間的同時(shí)降低成本。

適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測(cè)量系統(tǒng)能夠快速、有效地對(duì)幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物到有機(jī)材料——進(jìn)行三維表面分析。共焦技術(shù)能夠測(cè)量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測(cè)量數(shù)據(jù)。采用NanoFocus技術(shù)的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產(chǎn)和加工的不同階段對(duì)敏感表面進(jìn)行無(wú)損測(cè)量，透明涂層表面和層厚也可以同時(shí)測(cè)量。

無(wú)需樣品制備即可在幾秒鐘內(nèi)獲取真正的3D數(shù)據(jù)，進(jìn)而對(duì)表面進(jìn)行定性和定量的評(píng)估。NanoFocus為測(cè)量數(shù)據(jù)的分析提供了強(qiáng)大的綜合軟件解決方案以便確定相關(guān)參數(shù)。

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影像測(cè)量?jī)x的誤差來(lái)源有哪些呢？ （1）光柵尺記數(shù)的偏差; （2）操作臺(tái)挪動(dòng)時(shí)存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; （3）操作臺(tái)兩精l確測(cè)量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺(tái)不垂直帶的偏差; （5）精l確測(cè)量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; （6）燈源照明燈具標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動(dòng)對(duì)焦和指向偏差。