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X射線測厚儀結(jié)構(gòu)
一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
(一)、外部結(jié)構(gòu)原理圖
X熒光做鍍層分析時,根據(jù)射線是至上而下照射樣品,還是至下而上照射樣品的方式,將X熒光分析儀的外部整體結(jié)構(gòu)分為:上照射和下照射兩種結(jié)構(gòu)。
(二)、各種外部結(jié)構(gòu)的特點
1、上照射方式
用于照射(激發(fā))的X射線是采用由上往下照射方式的設(shè)備稱為上照射儀器。此類設(shè)備的Z軸為可移動方式,用于確定射線照射光斑的焦點,確保測量的準(zhǔn)確性。
①、Z軸的移動方式
根據(jù)Z軸的移動方式,分為自動和手動兩類;
自動型的設(shè)備完全由程序與自動控制裝置實現(xiàn),其光斑對焦的重現(xiàn)性與準(zhǔn)確度都很高,而且使用非常簡便(一般是與圖像采集系統(tǒng)與控制系統(tǒng)相結(jié)合的方式),一般只需要用鼠標(biāo)在圖像上點擊一下即可定位。因此,X射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。此類設(shè)備對于測試形狀各異的樣品非常方便,也是目前主流的分析設(shè)備類型。
手動型設(shè)備,一般需要用人觀察圖像的方式,根據(jù)參考斑點的位置,手動上下調(diào)節(jié)Z軸方向,以達(dá)到準(zhǔn)確對焦的目的。因此,往往在測試對象幾何結(jié)構(gòu)基本上沒有變化的情況下使用比較快捷。
②、X、Y軸水平移動方式
水平移動方式一般分為:無X、Y軸移動裝置;手動X、Y軸移動裝置;電動X、Y軸移動裝置;全程控自動X、Y軸移動裝置。
這幾類的設(shè)備都是根據(jù)客戶實際需要而設(shè)計的,例如:使用無X、Y軸移動裝置的也很多,結(jié)構(gòu)簡單,樣品水平移動完全靠手動移動,這種設(shè)備適合于樣品面積較大,定位比較容易的測試對象。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。通過電鍍,可以再機(jī)械制品上獲得裝飾保護(hù)性和各種功能性的表面層,還可以修復(fù)磨損和加工失誤的工件,鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、*工等制造領(lǐng)域。
先進(jìn)的技術(shù),專業(yè)的團(tuán)隊,嚴(yán)格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶信賴的根本所在。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀
X射線熒光光譜測厚儀原理
一個內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài),激發(fā)態(tài)原子壽命約為 (10)-12-(10)-14s,然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。這個過程稱為馳豫過程。而能量色散型,是由探測器本身的能量分辨本領(lǐng)直接探測X射線的能量。馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷。當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時,所釋放的能量隨即在原子內(nèi)部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子,此稱為俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng),所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。
它的能量是特征的,與入射輻射的能量無關(guān)。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收,而是以輻射形式放出,便產(chǎn)生X射線熒光,其能量等于兩能級之間的能量差。打開測試腔放入標(biāo)準(zhǔn)元素片Ag,通過調(diào)整移動平臺滑軌和焦距旋鈕使軟件測試畫面清晰7。因此,X射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。 K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中 任一電子所填充,從而可產(chǎn)生一系列的譜線,稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。