手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內(nèi)所發(fā)射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手持式光譜儀在使用前需要做哪些檢查？

1.檢查儀器的穩(wěn)定性

手持式光譜儀主要的性能就是穩(wěn)定性了，ICP每次在分析之前都要進行標(biāo)樣，所以測量的結(jié)果一般和真實數(shù)據(jù)差別不大，關(guān)鍵是同類的樣品在每次分析之后，結(jié)果是否是一致的，如果測量結(jié)果忽高忽低那可能是有問題的。

2.看一下儀器的波長范圍

看波長范圍是否能覆蓋你所要檢測所有元素的譜線范圍，如果能的話，那么就是沒有問題的。

手持式光譜儀在鍍層測厚的應(yīng)用

(1)對于光亮性電鍍，鍍層過薄則陰極電流密度小，故光亮整體性會差，影響整體外觀。

(2)合金電沉積時，不同工件鍍層厚度不同會導(dǎo)致各個工件合金組分不相同，或外觀不均(如仿金鍍)，又或抗蝕性不一致(如鋅鎳合金)。

(2)不同厚度鍍層的物理、機械性能(如脆性、內(nèi)應(yīng)力等)不一樣。若鍍后還要作沖壓成型等機加工處理，鍍層過厚的話往往機加工性能不良(起皮、開裂、粉狀脫落等)。

無論從防蝕性，還是外觀、機加工性能等方面講，鍍層厚度的規(guī)范性都不可忽視,所以對金屬表面鍍層厚度的把控也是至關(guān)重要。