光學影像測量儀檢測是一種常見測量技術，通過提供了量化的圖像測量方式，獲得測量數(shù)據(jù)，從而對零部件公差尺寸進行把控，是機械、電子制造業(yè)，計量測試所廣泛使用的一種多用途計量儀器。

影像測量儀的誤差來源有哪些呢？ （1）光柵尺記數(shù)的偏差; （2）操作臺挪動時存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; （3）操作臺兩精l確測量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺不垂直帶的偏差; （5）精l確測量工作溫度轉變產(chǎn)生的偏差; （6）燈源照明燈具標準的轉變產(chǎn)生的自動對焦和指向偏差。

適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測量系統(tǒng)能夠快速、有效地對幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導體、聚合物到有機材料——進行三維表面分析。共焦技術能夠測量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測量數(shù)據(jù)。采用NanoFocus技術的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產(chǎn)和加工的不同階段對敏感表面進行無損測量，透明涂層表面和層厚也可以同時測量。

無需樣品制備即可在幾秒鐘內獲取真正的3D數(shù)據(jù)，進而對表面進行定性和定量的評估。NanoFocus為測量數(shù)據(jù)的分析提供了強大的綜合軟件解決方案以便確定相關參數(shù)。

三維表面測量儀優(yōu)勢：在測量部件復雜，測量面陡峭和測量材料屬性多樣的情況下，InfiniteFocus G4亦可實現(xiàn)高分辨率測量。這同樣適用于光面部件或者小半徑和小角度的形貌。每個測量都提供了儲存到3D數(shù)據(jù)的顏色信息。　　三維表面測量儀主要特點：　　1、能夠同時測量形貌和粗糙度　　2、能夠測量小半徑和小角度　　3、能夠測量超過80°的斜面　　4、標準真實的顏色信息　　5、提供360°的形狀和粗擦度測量　　6、檢測具有不同表面特征的表面