UV-PLUS專利光學(xué)系統(tǒng)：SPECTROLAB的光學(xué)系統(tǒng)集合了兩種檢測(cè)器的優(yōu)勢(shì)：光電倍增管和CCD檢測(cè)器。采用了優(yōu)化的帕邢——龍格架構(gòu)，專利光學(xué)系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)異常堅(jiān)固，同時(shí)減少了內(nèi)部空間體積。內(nèi)部恒溫、恒壓確保光學(xué)系統(tǒng)不受外界環(huán)境變化和影響。UV-PLUS專利技術(shù)用于保障遠(yuǎn)紫外光譜范圍的測(cè)量。密封光室內(nèi)部在儀器出廠前充入高純氣，保證遠(yuǎn)紫外光譜的透過(guò)率。光室內(nèi)的氣由分子薄膜泵驅(qū)動(dòng)循環(huán)至凈化裝置，以保證內(nèi)部氣的高純度。

火花直讀光譜儀屬于高精密儀器，在實(shí)際操作中應(yīng)該注意幾個(gè)要點(diǎn)，以免誤操作不當(dāng)給分析結(jié)果帶來(lái)誤差，甚至不能測(cè)試結(jié)果，更嚴(yán)重者會(huì)損放壞火花直讀光譜儀，或影響壽命。

工作曲線的標(biāo)準(zhǔn)化操作和描跡操作①標(biāo)準(zhǔn)化操作每班進(jìn)行一次。如果操作人員認(rèn)為激發(fā)標(biāo)鋼分析結(jié)果穩(wěn)定，可以用上個(gè)班的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)。在分析過(guò)程中個(gè)別元素偏離太大時(shí)，可以再實(shí)行標(biāo)準(zhǔn)化，保證分析結(jié)果的準(zhǔn)確。②標(biāo)準(zhǔn)化操作時(shí)，研磨標(biāo)準(zhǔn)化樣品好用新的砂輪片面。③、標(biāo)準(zhǔn)化過(guò)程中，要檢查標(biāo)準(zhǔn)化樣品的號(hào)碼，按需要輸入。不可粗心大意的輸入。④、標(biāo)準(zhǔn)化操作完成以后，要檢查一下系數(shù)和補(bǔ)償值，與上一次做對(duì)比，不要變動(dòng)太大。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制

光譜儀的定量分析中的誤差來(lái)源是多種多樣的，但是可以通過(guò)計(jì)算機(jī)的軟件在測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行正式處理之前，進(jìn)行預(yù)處理。

對(duì)數(shù)據(jù)分別進(jìn)行處理，首先要將各元素的數(shù)據(jù)分離開(kāi)來(lái)，另外，為提高和改善數(shù)據(jù)的質(zhì)量，節(jié)約處理數(shù)據(jù)的時(shí)間，也需要對(duì)各元素的數(shù)據(jù)進(jìn)行適當(dāng)?shù)募庸?所有這一切都是數(shù)據(jù)預(yù)處理承擔(dān)任務(wù)，其中主要內(nèi)容包括：元素通道光電流的積分電壓的分路,數(shù)據(jù)編輯,數(shù)據(jù)的模/數(shù)轉(zhuǎn)換，數(shù)據(jù)格式的轉(zhuǎn)換，去除電平漂移,去除或提取趨勢(shì)項(xiàng)，平滑濾波器等。 次數(shù)用完API KEY 超過(guò)次數(shù)限制