德國斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發(fā)的垂直同步雙觀測（DSOI）技術(shù)為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術(shù)解決了等離子體觀測的核心問題，靈敏度是傳統(tǒng)垂直觀測等離子體儀器的數(shù)倍，性能價格比優(yōu)異。

SPECTRO的垂直同步雙觀測（DSOI）方式，使用兩個光學(xué)接口捕獲來自垂直等離子體的發(fā)射光，使得微弱信號的檢測能力大幅提升，同時又允許高濃度、重基體進(jìn)樣。另外，手持式分析儀一般應(yīng)用于檢測元素，需要做放樣檢測，所以，技術(shù)人員還需要做好防輻射。進(jìn)一步降低了記憶效應(yīng)和污染風(fēng)險。DSOI技術(shù)將傳統(tǒng)垂直觀測系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍，避免了垂直雙觀測結(jié)構(gòu)的復(fù)雜缺點和降低了用戶使用成本。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在分析測定微量元素和處理具有挑戰(zhàn)性基質(zhì)的樣品（包括某些廢水、土壤和淤泥，以及工業(yè)化學(xué)品、高鹽樣品和金屬的樣品）方面具有顯著的優(yōu)勢。準(zhǔn)直系統(tǒng)一般由入射狹縫和準(zhǔn)直物鏡組成，入射狹縫位于準(zhǔn)直物鏡的焦平面上。SPECTROGREEN光譜儀是環(huán)境和農(nóng)學(xué)的常用分析系統(tǒng)，同時也是消費品安全、藥品、石化產(chǎn)品、化學(xué)品和食品行業(yè)的理想選擇。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

斯派克的客戶在使用火花直讀光譜儀的過程中會遇到各種問題，現(xiàn)小編綜合概況如下，希望對大家有所幫助：

清理火花臺：激發(fā)時金屬材料在火花臺內(nèi)產(chǎn)生黑色沉積物可導(dǎo)致電極與火花臺之間短路，所以火花臺應(yīng)定期清理。方法如下：松開螺絲取下火花臺板及電極（包括墊片和電極上的玻璃套管），用吸塵器清理火花臺內(nèi)部。完畢后將火花臺復(fù)位。

判斷激發(fā)斑點

濃縮（凝聚）放電—激發(fā)點中心處侵蝕均勻并有金屬光澤，此為正常放電表明儀器工作正常；

擴散放電—激發(fā)點呈白色，強度值低，樣品表面無侵蝕，為非正常放電，應(yīng)檢查激發(fā)過程，包括亞氣、試樣等。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制