影響膜厚測(cè)量?jī)x的因素

基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的導(dǎo)電性對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的導(dǎo)電性與材料成分和熱處理方法有關(guān)。使用與樣品金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)儀器。

基體金屬厚度

每個(gè)儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度，測(cè)量不受基體金屬厚度的影響。

曲率

試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此，測(cè)量彎曲試樣的表面是不可靠的。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷(xiāo)售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車(chē)前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶(hù)來(lái)電咨詢(xún)！

厚度測(cè)量?jī)x主要用于測(cè)試產(chǎn)品的厚度。要知道，有些產(chǎn)品很薄，肉眼看不到，所以有可能知道設(shè)備的工作是多么精細(xì)。如果使用中有輕微的偏差，測(cè)試結(jié)果將是非常不同的。因此，在使用該設(shè)備時(shí)，首先要注意校準(zhǔn)工作，把產(chǎn)品放在準(zhǔn)確的位置，并測(cè)量準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

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膜厚測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)方式

儀器較零

1.測(cè)量鐵基上的探針壓力（或沒(méi)有涂層測(cè)量體）。滄州歐洲頻譜，并按下零鍵零到零。壓零鍵時(shí)，不要將測(cè)量探頭搖晃在鐵基上。同時(shí)，我們必須注意，只有在按下零鍵之后才能拾起探頭，否則，校準(zhǔn)誤差是不正確的。

2.取測(cè)量探頭（或不加測(cè)量體上的涂層），觀察鐵基體上的測(cè)量值，如果測(cè)量值接近0，則顯示零校正成功，否則將獲得新零。

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