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SMT技術(shù)進(jìn)入90年代以來，走向了成熟的階段，但隨著電子產(chǎn)品向便據(jù)式/小型化、網(wǎng)絡(luò)化和多媒體化方向的迅速發(fā)展，對電子組裝技術(shù)提出了更高的要求，新的高密度組裝技術(shù)不斷涌現(xiàn)，回收閃存，其中BGA(Ball Grid Array球柵陣列封裝)就是一項(xiàng)已經(jīng)進(jìn)入實(shí)用化階段的高密度組裝技術(shù)。本文試圖就BGA器件的組裝特點(diǎn)以及焊點(diǎn)的質(zhì)量控制作一介紹。

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在檢測BGA器件缺陷過程中，電子測試僅能確認(rèn)在BGA連接時(shí)，判斷導(dǎo)電電流是通還是斷?如果輔助于非物理焊接點(diǎn)測試，內(nèi)存回收，將有助于組裝工藝過程的改善和SPC(統(tǒng)計(jì)工藝控制)。

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檢測方法/電子元器件

電解電容器的檢測

對于正、負(fù)極標(biāo)志不明的電解電容器，可利用上述測量漏電阻的方法加以判別。即先任意測一下漏電阻，記住其大小，然后交換表筆再測出一個阻值。兩次測量中阻值大的那一次便是正向接法，即黑表筆接的是正極，紅表筆接的是負(fù)極。

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