3.6VCES集射極截止電壓0~5000V集電極電流ICES：0.01～1mA±3%±0.001mA；1～10mA±2%±0.01mA；10～50mA±1%±0.1mA；集電極電壓VCES：0-5000V±1.5%±2V；*3.7 ICES集射極截止電流0.01～50mA集電極電壓VCES：50～500V±2%±1V；500～5000V±1.5%±2V；集電極電流ICES：0.001～1mA±3%±0.001mA；1～10mA±2%±0.01mA；10～150mA±1%±0.1mA；*3.8VCE(sat)飽和導通壓降0.001～10V集電極電流ICE：0-1600A集電極電壓VCEs：0.001～10V±0.5%±0.001V柵極電壓Vge：5～40V±1%±0.01V集電極電流ICE：0～100A±1%±1A；100～1600A±2%±2A；*3.9Iges柵極漏電流0.01～10μA柵極漏電流IGEs：0.01～10μA±2%±0.005μA柵極電壓Vge：±1Ｖ～40V±1%±0.1V；Vce=0V；6 VCES 集射極截止電壓 0~5000V 集電極電流ICES： 0。*3.10VF正向特性測試0.1～5V二極管導通電壓Vf：0.1～5V±1%±0.01V電流IF：0～100A±2%±1A；100～1600A±1.5%±2A；

13）被測器件旁路開關被測安全接地開關，設備不運行時，被測接地。?電流能力DC 50A?隔離耐壓15kV?響應時間150ms?工作方式氣動控制?工作氣壓0.4MPa?工作溫度室溫～40℃?工作濕度<70）工控機及操作系統(tǒng)用于控制及數(shù)據(jù)處理，采用定制化系統(tǒng)，主要技術參數(shù)要求如下：?機箱：4Μ 15槽上架式機箱；?支持ATX母板；?CPΜ：INTEL雙核；?且變流器由多個模塊組成，由于個體差異，大電流情況下的參數(shù)也會存在個體差異。主板：研華SIMB；?硬盤：1TB；內(nèi)存4G；?3個5.25”和1個3.5”外部驅(qū)動器；?集成VGA顯示接口、4個PCI接口、6個串口、6個ΜSB接口等。?西門子PLC邏輯控制

開通特性測試采用雙脈沖測試法。由計算機設定并控制輸出集電極電壓VCC值到被測器件的測試要求值（一般為被測器件額定電壓的1/2），設定±VGG到測試要求值，計算機控制接通開關S1，并控制輸出被測雙脈沖觸發(fā)信號，開通和關斷被測器件兩次，被測器件次開通后，集電極電流IC上升，直至被測器件飽和導通且IC達到測試規(guī)定值時，關斷被測器件(設為t1時刻)，之后電感L經(jīng)二極管（Q1內(nèi)部二極管）續(xù)流，IC迅速減小，直至IC降為零時，檢修用IGBT測試儀現(xiàn)貨供應，第二次開通被測器件(設為t2時刻)，此后電感L中的電流向IC轉(zhuǎn)移，IC迅速上升(若L足夠大，檢修用IGBT測試儀批發(fā)，t1～t2間隔足夠短，L中的電流可視為恒流），檢修用IGBT測試儀，直至被測器件再次達到飽和導通時(設為t3時刻)，關斷被測器件。記錄下被測器件IC、VCE以及VGE在t2～t3之間的導通波形，檢修用IGBT測試儀加工，其中，VCE采樣到示波器的CH1通道，IC取樣到示波器的CH2通道，VGE采樣到示波器的CH3通道，示波器通過光通訊方式將測試波形傳輸給計算機，由計算機對測試波形進行分析與計算，后顯示測試結果。測量目的：對模塊的電壓降參數(shù)進行檢測,可判斷模塊是否處于正常狀態(tài)。

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