隨著集成電路產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展，集成電路的集成度越來越高，內(nèi)部結(jié)構(gòu)也越來越復(fù)雜，對(duì)于測試的要求也越來越高。集成電路測試技術(shù)作為保障集成電路性能、質(zhì)量的重要技術(shù)之一也得到了很快的發(fā)展。直流參數(shù)測試是集成電路測試技術(shù)的重要組成部分，能夠快速有效的檢測芯片的性能，受到集成電路測試行業(yè)的高度重視。實(shí)現(xiàn)了一種大功率直流參數(shù)測試的研制，數(shù)字ic設(shè)計(jì) 筆試，可以實(shí)現(xiàn)高電壓、大電流的直流參數(shù)測試，具有很高的測試精度，而且具有一定的通用性。 

首先根據(jù)文獻(xiàn)資料分析本課題研究的背景以及意義，介紹了集成電路測試系統(tǒng)組成、分類以及國內(nèi)外的發(fā)展?fàn)顩r。介紹了集成電路直流參數(shù)測試的基本原理與方法，在此基礎(chǔ)上分析了大功率模擬集成電路直流參數(shù)測試的設(shè)計(jì)需求，提出了設(shè)計(jì)需要實(shí)現(xiàn)的功能與設(shè)計(jì)指標(biāo)，構(gòu)建了大功率模擬集成電路直流參數(shù)測試實(shí)現(xiàn)的原理方案;設(shè)計(jì)了接口控制模塊、邏輯控制模塊與精密測量單元，詳細(xì)分析了精密測量單元的工作原理，并搭建了具體的硬件電路;根據(jù)硬件所需要實(shí)現(xiàn)的測試功能，設(shè)計(jì)了測試底層驅(qū)動(dòng)函數(shù)，提供給應(yīng)用軟件測試函數(shù)接口實(shí)現(xiàn)可編程測試，并對(duì)測試進(jìn)行了軟件校正;后文章給出了功能測試數(shù)據(jù)與報(bào)告，分析了集成運(yùn)算放大器的測試原理和方法，并給出了測試過程與測試數(shù)據(jù)，表明測試性能達(dá)到了比較好的效果。設(shè)計(jì)的大功率模擬直流參數(shù)測試模塊，已經(jīng)被廣東某集成電路制造企業(yè)使用，使用效果表明測試模塊性能穩(wěn)定，通用性強(qiáng)，成本低，特別適合國內(nèi)集成電路企業(yè)的應(yīng)用，具有比較高的實(shí)用價(jià)值。          

1、需求分析與規(guī)格制定

對(duì)市場調(diào)研，弄清需要什么樣功能的芯片。

芯片規(guī)格，也就像功能列表一樣，是客戶向芯片設(shè)計(jì)公司提出的設(shè)計(jì)要求，包括芯片需要達(dá)到的具體功能和性能方面的要求。

　　2、架構(gòu)設(shè)計(jì)與算法設(shè)計(jì)

根據(jù)客戶提出的規(guī)格要求，對(duì)一些功能進(jìn)行算法設(shè)計(jì)，拿出設(shè)計(jì)解決方案和具體實(shí)現(xiàn)架構(gòu)，劃分模塊功能。

      3、HDL編碼

　　使用硬件描述語言（VHDL，Verilog HDL）分模塊以代碼來描述實(shí)現(xiàn)，RTL coding，linux環(huán)境下一般用Gvim作為代碼編輯器。

　　4、功能

驗(yàn)證就是檢驗(yàn)編碼設(shè)計(jì)的正確性。不符合規(guī)格要重新設(shè)計(jì)和編碼。設(shè)計(jì)和驗(yàn)證是反復(fù)迭代的過程，直到驗(yàn)證結(jié)果顯示完全符合規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)。該部分稱為前。

　　5、邏輯綜合――Design Compiler

　　驗(yàn)證通過，進(jìn)行邏輯綜合。邏輯綜合就是把HDL代碼翻譯成門級(jí)網(wǎng)表netlist。

綜合需要設(shè)定約束條件，就是你希望綜合出來的電路在面積，時(shí)序等目標(biāo)參數(shù)上達(dá)到的標(biāo)準(zhǔn)。邏輯綜合需要基于特定的綜合庫，不同的庫中，門電路基本標(biāo)準(zhǔn)單元（standard cell）的面積，時(shí)序參數(shù)是不一樣的。所以，綜合庫不一樣，綜合出來的電路在時(shí)序，面積上是有差異的。一般來說，綜合完成后需要再次做驗(yàn)證（這個(gè)也稱為后）

邏輯綜合工具：Synopsys的Design Compiler，工具選擇上面的三種工具均可。

　　6、靜態(tài)時(shí)序分析——STA

Static Timing Analysis（STA），靜態(tài)時(shí)序分析，嵌入式和ic數(shù)字設(shè)計(jì)，驗(yàn)證范疇，它主要是在時(shí)序上對(duì)電路進(jìn)行驗(yàn)證，檢查電路是否存在建立時(shí)間（setup time）和保持時(shí)間（hold time）的違例（violation）。這個(gè)是數(shù)字電路基礎(chǔ)知識(shí)，數(shù)字ic設(shè)計(jì)，一個(gè)寄存器出現(xiàn)這兩個(gè)時(shí)序違例時(shí)，是沒有辦法正確采樣數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)的，所以以寄存器為基礎(chǔ)的數(shù)字芯片功能肯定會(huì)出現(xiàn)問題。

隨著數(shù)字集成電路性能的不斷提高，數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)也相應(yīng)得到了迅速發(fā)展。主要表現(xiàn)在以下幾方面: 測試通道數(shù)增加數(shù)字電路集成度的不斷提高和專用集成電路的出現(xiàn)，器件的引腳數(shù)不斷增加，使得數(shù)字測試系統(tǒng)的測試通道數(shù)相應(yīng)不斷增加。由測試中、小規(guī)模集成電路的24通道測試系統(tǒng)，測試大規(guī)模集成電路的48通道、64通道測試系統(tǒng)發(fā)展到測試超大規(guī)模集成電路的128通道、256通道甚至更多通道數(shù)的測試系統(tǒng)。

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