IC設(shè)計方案行業(yè)的盆友都了解，數(shù)字集成電路所追求的并并不是加工工藝連接點。只是加工工藝，設(shè)計方案，板圖，實體模型，封裝這些全部全產(chǎn)業(yè)鏈上邊每個一部分的融合。而數(shù)字電路設(shè)計所追求的大量的則是系統(tǒng)架構(gòu)圖，數(shù)字電壓表的設(shè)計，優(yōu)化算法的提升，針對加工工藝則是無止盡的追求圖形界限少，功能損耗少，傳送延遲時間少。

瑞泰威驅(qū)動IC廠家，是國內(nèi)IC電子元器件的代理銷售企業(yè)，**從事各類驅(qū)動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售，品類齊全，具備上百個型號。

學(xué)習(xí)“數(shù)字集成電路基礎(chǔ)”是一切的開始，可以說是進入數(shù)字集成電路門檻的步。CMOS制造工藝是我們了解芯片的節(jié)課，數(shù)字電壓，從生產(chǎn)過程（宏觀）學(xué)習(xí)芯片是怎么來的，這一步，可以激發(fā)學(xué)習(xí)的興趣，產(chǎn)生學(xué)習(xí)的動力。

接下來，從微觀角度來學(xué)習(xí)半導(dǎo)體器件物理，了解二極管的工作原理。進而學(xué)習(xí)場效應(yīng)管的工作原理，這將是我們搭電路的積木。

導(dǎo)線是什么？這是一個有趣的話題，電阻、電容、電感的相互作用，產(chǎn)生和干擾，也是數(shù)字電路要解決的重要問題。

門電路是半定制數(shù)字集成電路的積木（Stardard Cell），所有的邏輯都將通過它們的實現(xiàn)。

存儲器及其控制器，本質(zhì)上屬于數(shù)?；旌想娐贰５捎谟嬎銠C等復(fù)雜系統(tǒng)中存儲器的日新月異，存儲器的控制器由邏輯層（數(shù)字）和物理層（模擬）一起實現(xiàn)。

FPGA是可編程門陣列，就是提前生產(chǎn)好的ASIC芯片，可以改配置文件，來實現(xiàn)不同的功能。常常用于芯片Tapeout前的功能驗證，或者用于基于FPGA的系統(tǒng)產(chǎn)品（非ASIC實現(xiàn)方案，快速推向市場）。

可測試性設(shè)計（即Design For Test），通常用來檢測和調(diào)試生產(chǎn)過程中的良率問題。封裝和測試是芯片交給客戶的后一步。似乎這些與狹義的數(shù)字電路設(shè)計不相關(guān)，但這恰恰公司降低成本的秘訣。

后，直流數(shù)字電壓表設(shè)計，還需要了解數(shù)字電路與模擬電路的本質(zhì)區(qū)別，這將會幫助我們?nèi)趨R貫通所學(xué)的知識。

數(shù)字電子技術(shù)是普通高校電子類相關(guān)**的必修課程，主要包含組合邏輯電路和時序邏輯電路兩部分內(nèi)容及其應(yīng)用。數(shù)字電子技術(shù)又是一門實踐性很強的課程，需要學(xué)生動手做實驗來加深對數(shù)字邏輯芯片工作原理的理解。數(shù)字電路實驗離不開數(shù)字邏輯芯片，很多高校每年都會采購一批數(shù)字邏輯芯片，芯片復(fù)用率很低，造成了數(shù)字邏輯芯片的嚴重浪費。

數(shù)字電路實驗會使用到許多不同類型的數(shù)字邏輯芯片。由于儲存方法不當、實驗平臺不完善、學(xué)生不規(guī)范操作等原因，數(shù)字邏輯芯片經(jīng)常發(fā)生損壞。由于其故障類型多樣、檢測過程繁瑣，因此實驗室管理人員難以及時排查故障芯片。本文基于芯片ESD保護原理、故障字典法研究設(shè)計了一種數(shù)字邏輯芯片自動化檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)可檢測數(shù)字邏輯芯片是否有短路、斷路和邏輯功能錯誤等故障，簡易數(shù)字電壓表電路圖，并可確定具體的故障引腳位置，通過LCD液晶屏或上位機將檢測結(jié)果展示給用戶。經(jīng)過實際的試驗和數(shù)據(jù)分析可以得出:該檢測系統(tǒng)可以較好地檢測數(shù)字邏輯芯片故障，單枚芯片檢測時間大約為3秒，且檢測準確率高達99.4%、運行功耗低至0.44W。非常適合在開設(shè)數(shù)字電子技術(shù)課程的高校中推廣應(yīng)用，同時也可用于芯片制造公司的成品檢測。