圖像質(zhì)量測(cè)試卡

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ISO 18844數(shù)字相機(jī)圖像眩光測(cè)試卡

描述此測(cè)試卡有兩種結(jié)構(gòu)，一種一層結(jié)構(gòu)，另一種是兩層結(jié)構(gòu)。一層結(jié)構(gòu)中，黑點(diǎn)的光學(xué)密度為4.5，透過(guò)率為 0.000316， 二層結(jié)構(gòu)黑點(diǎn)的光學(xué)密度為9，透過(guò)率為0.000000001 。

此測(cè)試卡與均勻透射背光光源配合使用，拍攝時(shí)需要在全黑的暗室中， 在測(cè)試卡表面不能有環(huán)境光帶來(lái)的反射，膚色測(cè)試卡價(jià)格，會(huì)影響分析數(shù)據(jù)。

遵循標(biāo)準(zhǔn)ISO 18844:2017 – Digital cameras – Image flare measurement

ISO 18844 標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試圖案，是兩行呈對(duì)角線排列的高密度光陷阱(或黑洞)。Imatest軟件較早版本的Veiling glare分析，安徽膚色測(cè)試卡，僅測(cè)試了在圖像一個(gè)固定區(qū)域的點(diǎn)的眩光數(shù)據(jù)，但是在鏡頭的不同位置，眩光的數(shù)據(jù)有可能不同。ISO 18844 標(biāo)準(zhǔn)中type C型，測(cè)試卡在Imatest V5.0版軟件中得到了支持，可以通過(guò)Uniformity模塊，膚色測(cè)試卡多少錢，或Uniformity交互式模塊進(jìn)行分析。

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圖像棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡簡(jiǎn)介

棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡用于檢查攝像機(jī)的幾何失真及分辨率

棋盤(pán)式畸變測(cè)試卡參數(shù)測(cè)試卡類似于一個(gè)由13×18的黑色和白色正方形區(qū)域以及由矩形區(qū)域在對(duì)應(yīng)于電子測(cè)試生成器14/19網(wǎng)格光柵線邊緣所包圍的棋盤(pán)。（整個(gè)圖卡發(fā)生器的水平網(wǎng)格線被劃分為相應(yīng)于42行）。

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