USB4.0 標(biāo)準(zhǔn)定義了非常詳細(xì)、復(fù)雜的發(fā)送端測試要求，需要對每 個 Type-C 口、每一條 lane、每一種速率下信號做 Preset Calibration、 Equalization Calibration； 然 后以次為基礎(chǔ)，  測試所有抖動 (TJ/UDJ/ DDJ/LPUDJ/DCD)、眼圖、上升時間 / 下降時間、  SSC 等指標(biāo)； 并 且每一個測試都伴隨著測試碼型的切換。。。如果用手動方式，  做 一次完整的測試，  這幾乎是不可能的任務(wù)。是德科技 D9040USBC 一致性測試軟件完美地解決了整個問題。如下所示，可以將示波 器作為控制 PC，  USB-IF 的 USB4ETT 軟件安裝在示波器上，  USB4.0 Microcontroller 也連在示波器上。這樣 D9040USBC 軟件就可以利用 USB4ETT command line interface，通過 USB4.0 Microcontroller 在捕獲 / 分析完所需的信號后，  控制被測體產(chǎn)生下一個測試項目所需的測 試碼型。從而形成一個閉環(huán)的全自動化測試解決方案USB物理層測試是否需要考慮對USB Type-C接口的測試？安徽USB物理層測試維修

c)EqualizationCalibration針對無源電纜的應(yīng)用場景，USB的發(fā)送端測試點在TP3。示波器在進(jìn)行信號質(zhì)量分析前，需要模擬真實device，引入一個參考均衡算法，減輕有損電纜對信號質(zhì)量的惡化。USB4.0定義了這種參考均衡算法可以有多種不同的連續(xù)時間線性均衡(CTLE:Continuous-Time-Linear-Equalizer)和判決反饋均衡(DFE:Decision-Feedback-Equalizer)組成。在做TP3測試前，需要sweep這些組合，找到能提供眼圖面積(如果面積相等，參考眼高)的算法，以此為基礎(chǔ)，得到TP3相關(guān)的測試結(jié)果。d)USB4.0抖動分離為了更好表征高達(dá)20Gbps的USB4.0信號質(zhì)量，不同于USB3.2測試Tj,Rj和Dj三個抖動指標(biāo)，USB4.0定義了嚴(yán)格的TJ,UDJ,DDJ,LPUDJ,DCD等抖動指標(biāo)，并且對每個指標(biāo)如何做抖動分離、如何測量做了詳細(xì)的規(guī)定。安徽USB物理層測試維修USB4.0 Sideband 信號測試？

2.USB4.0接收端測試下圖是USB4.0接收端測試的連接示意圖。同樣的，和其他的高速串行總線接口接收端一致性測試方案類似，USB4.0接收端測試也是由誤碼儀、夾具、低損耗相位匹配電纜等組成。這個方案和傳統(tǒng)的USB3.2、PCIEG5/4等一致性測試方案相比的不同是，USB4.0接收端測試只需要誤碼儀的碼型產(chǎn)生單元，誤碼比較單元在被測芯片內(nèi)部，控制電腦運行USB4ETT軟件，通過Microcontroller讀取誤碼測試時Bert和USB4.0芯片Preset和鏈路協(xié)商過程、以及的誤碼測試結(jié)果。另外，還需要一個微波信號源，產(chǎn)生一個400MHz的AC共模干擾。是德科技提供基于M8020A誤碼儀+M8062A32GbpsMUX或者M(jìn)8040A32/64Gbaud誤碼儀兩套方案，供客戶靈活選擇。

USB3.x發(fā)送端信號質(zhì)量測試在進(jìn)行USB3.x發(fā)送端信號質(zhì)量測試時，會要求測試對象發(fā)出特定的測試碼型，用實時示波器對該碼型進(jìn)行眼圖分析，并測量信號的幅度、抖動、平均數(shù)據(jù)率及上升/下降時間等。雖然看起來好像比較簡單，但實際上USB3.x針對超高速部分的信號測試與傳統(tǒng)USB2.0的測試方法有較大的不同，包括很多算法的處理和注意事項。首先，由于USB3.x信號速率很高，且信號的幅度更小，因此測試中需要更高帶寬的示波器。對于5Gbps信號的測試，推薦使用至少12.5GHz帶寬的示波器；對于10Gbps信號的測試，推薦使用至少16GHz帶寬的示波器。其次，對于USB3.x發(fā)送端測試，其測試的參考點不是像USB2.0那樣只是在發(fā)送端的連接器上進(jìn)行測試，還需要測試經(jīng)過“一致性通道”(ComplianceChannel)或“參考通道”(ReferenceChannel)傳輸，并經(jīng)參考均衡器均衡后的信號質(zhì)量。通常把直接在發(fā)送端連接器上進(jìn)行的測試叫作“ShortChannel”測試，把經(jīng)過傳輸通道進(jìn)行的測試叫作“LongChannel”測試。如何測試USB接口的傳輸速率？

另外，由于5Gbps或10Gbps的信號經(jīng)過長電纜和PCB傳輸以后有可能眼圖就無法張開了，所以在芯片接收端內(nèi)部會提供CTLE(連續(xù)時間線性均衡)功能以補償高頻損耗，因此測試時示波器的測試軟件也要能支持CTLE才能模擬出接收端對信號均衡以后的真實的結(jié)果。圖3.6是在USB3.2的規(guī)范中，分別對于Genl的5Gbps信號和Gen2的10Gbps信號CTLE的均衡器的定義。以下是USB3.x的信號測試方法相對于USB2.0的區(qū)別：(1)示波器的測試點在一致性電纜(compliancecable)和一致性電路板(complianceboard)之后。而以前的測試是在發(fā)送端的連接器處(如USB2.0)。(2)后處理需要使用CTLE均衡器，在均衡器后觀察和分析眼圖及其參數(shù)。(3)需要連續(xù)測量1M個UI(比特間隔)。(4)需要計算基于1.0×10-12誤碼率的DJ、RJ和TJ。USB物理層測試的目的是什么？吉林USB物理層測試高速信號傳輸

USB物理層測試是否需要考慮對自校準(zhǔn)能力的測試？安徽USB物理層測試維修

USB電纜/連接器測試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號帶寬高出很多，電纜、連接器和信號傳輸路徑驗證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對支持10Gbps信號的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外，對于電纜來說還有一些時域參數(shù)，如差分阻抗和不對稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個參數(shù)通常是用TDR/TDT來測量。目前很多VNA已經(jīng)可以通過增加時域TDR選件(對頻域測試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實現(xiàn))的方式實現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USBType-C電纜上要測試的線對數(shù)量很多，通過模塊化的設(shè)計，VNA可以在一個機(jī)箱里支持多達(dá)32個端口，因此所有差分電纜/連接器的測試項目都可以通過一臺多端口的VNA來完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測試夾具進(jìn)行Type-C的USB電纜測試的例子。安徽USB物理層測試維修