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IR FPA 傳感器(焦平面陣列傳感器)指的是對紅外光敏感的探測器陣列,這些探測器在位于紅外光學(xué)鏡頭焦平面時,能夠生成二維電子圖像。具體來說,市場上提供的 IR FPA 傳感器是通過將紅外探測器陣列(即原始 IR FPA 傳感器)與讀取電子系統(tǒng)結(jié)合而成的。
FAPA是一個模塊化系統(tǒng),由一系列模塊組成,可以配置為創(chuàng)建一系列不同的子系統(tǒng),用于測量不同參數(shù)組。然而,F(xiàn)APA的所有模塊基本上可以分為三類(塊):1.放射性測量工具,2.傳感器控制/圖像處理工具,3.圖像采集/計算工具。 INframeT SAFT 熱成像光電測試系統(tǒng),基數(shù)參數(shù)精確校準(zhǔn),守護安全每一刻!河南INframeT熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)
在國際市場提供的典型面源黑體(包括Inframet提供的TCB/MTB黑體)被優(yōu)化,以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標(biāo):約1μm至約15μm。這種黑體的發(fā)射面的高發(fā)射率是通過溫度受控的金屬板,與其涂覆的高吸收性涂料薄層來實現(xiàn)。由于這種黑體的發(fā)射率在波長約0.1mm處開始下降,并且在波長超過約1mm變得非常低,所以典型的面源黑體不能用于模擬THz帶(0.1mm至1mm)和亞THz帶(1mm至10mm的波長)的黑體目標(biāo)溫度。在典型的紅外黑體中使用的高輻射率涂層對于太赫茲光學(xué)輻射而言變得部分半透明,特別是在長波處大約0.5mm。河南INframeT熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)專業(yè)校準(zhǔn),熱成像基數(shù)參數(shù)優(yōu)化,讓夜間監(jiān)控更智能、更精確!
InframetLS-SAL多通道寬波段可見光-短波紅外光源適用于VIS-SWIR相機,有五種工作模式:1)色溫是2856K的鹵素,適用于VIS-SWIR波段;2)色溫超過5000K的白色寬帶LED,適用于可見光;3)混合模式,鹵素?zé)艉桶咨珜拵ED按照一定光強比例工作;4)校準(zhǔn)單色1550nm光源;5)校準(zhǔn)短波紅外光源。其次,LS-SAL光源配備一套濾波片,當(dāng)工作在鹵素?zé)裟J綍r,可用于選擇所需的波段。
基礎(chǔ)工作模式①鹵素?zé)?無濾光片②可見光LED③混合模式,鹵素?zé)艉桶咨珜拵ED④帶1550nm窄帶濾光片的鹵素?zé)簪葜粠Ф滩t外濾光片的鹵素?zé)?
OPO望遠瞄準(zhǔn)測試系統(tǒng)是一套用于測試光學(xué)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)的模塊化多功能測試系統(tǒng),OPO測試系統(tǒng)支持一系列重要參數(shù)的測試:分辨率,MTF(軸上,離軸),放大率,畸變,視場,透過率,漸暈,出瞳距離,出瞳直徑,屈光度范圍,視差等。被測望遠瞄準(zhǔn)系統(tǒng)可以由這些參數(shù)來表征其性能。OPO測試系統(tǒng)對于望遠瞄準(zhǔn)系統(tǒng)的生產(chǎn)商,采購商或者維修站來說都是比較好的測試工具。OPO系統(tǒng)是人工由操作計算機系統(tǒng)的概念建立的,該系統(tǒng)可以對被測望遠鏡瞄準(zhǔn)具生成的參考圖像進行分析。簡單的手工操作設(shè)計理念,模塊化設(shè)計,可靠性高,使用壽命長。熱成像新標(biāo)準(zhǔn),基數(shù)參數(shù)精細調(diào)校,夜視效果超乎期待!
FUT靶標(biāo)為棋盤型靶標(biāo),采用大面積、均勻溫度的輻射源,經(jīng)表面加工后在高發(fā)射率背景下實現(xiàn)低發(fā)射率。FUT靶標(biāo)尺寸較大,能夠完全填充被測融合成像系統(tǒng)的視野。利用熱像儀和可見光/近紅外成像傳感器對FUT靶標(biāo)進行圖像采集,為有效的圖像融合提供了必要的數(shù)據(jù)。FUT靶標(biāo)是一種均勻加熱的靶標(biāo),通常不能夠進行調(diào)節(jié)高溫度。操作較為簡單,插上電源加熱十幾分鐘穩(wěn)定后就可進行使用。
測試功能:FUT靶標(biāo)可以用于以下測試:?對準(zhǔn)誤差(熱通道光軸相對于可見光通道光軸的角度)?旋轉(zhuǎn)誤差(熱通道圖像與可見通道圖像之間的角度)?熱成像通道圖像相對于可見成像通道圖像的二維空間位移圖(與另一通道中的同一像素相比,像素的位移量和位移方向的信息)?熱像儀分辨率測試 Inframet DTR短焦熱像儀測試系統(tǒng),基數(shù)參數(shù)智能校準(zhǔn),為安全插上科技的翅膀!河南INframeT熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)
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由于以下幾個原因,太赫茲區(qū)域黑體的設(shè)計是一個技術(shù)挑戰(zhàn):a)需要THz/短波頻譜帶中高吸收率涂層的發(fā)射體以確保高發(fā)射率;b)由于THz/微波成像儀的低分辨率,所以需要大面積的黑體;c)需要很高的溫度均勻性、溫度穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度,以便能夠?qū)Hz/微波傳感器進行準(zhǔn)確校準(zhǔn)。這些黑體的設(shè)計基于針對THz范圍優(yōu)化的特殊澆注材料吸收體涂層,大面積均勻發(fā)射面板和控制電子元件。MAB黑體具有不同發(fā)射器面積,不同溫度范圍的一系列版本,并針對不同的光譜帶進行了優(yōu)化。MAB黑體的特征在于具有良好的溫度分辨率、溫度穩(wěn)定性、溫度均勻性、溫度不確定性和高發(fā)射率。所有這些功能使得MAB黑體被用作測試/校準(zhǔn)太赫茲/亞太赫茲成像儀或其他這種輻射儀系統(tǒng)中的參考源的理想選擇。河南INframeT熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)
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