x射線發(fā)生裝置解決哪些問題？

（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。

（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。

（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。

（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。

（5）納米材料由于顆粒細(xì)小，極易形成團(tuán)粒，采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。

x射線發(fā)生裝置基本原理

使用的X射線源是X射線管，中能x射線發(fā)生裝置，這是一種裝有陰陽極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽極靶，從而產(chǎn)生X射線。當(dāng)X射線照射到晶體物質(zhì)上，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)不同的晶體物質(zhì)具有自己的衍射樣，這就是X射線衍射的基本原理。

x射線發(fā)生裝置角度校準(zhǔn)的光學(xué)新方法

目前x射線發(fā)生裝置的角度檢定和校準(zhǔn)測試主要依據(jù)JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術(shù)條件》等技術(shù)文件，中能x射線發(fā)生裝置哪家好，具體方法是采用光學(xué)經(jīng)緯儀或多面棱體等進(jìn)行測試，該測量方法實際應(yīng)用中存在一定難度，中能x射線發(fā)生裝置公司，其次測量間隔較大，不能很好反映真實的角度誤差規(guī)律.為此，提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨立運(yùn)動的特點，中能x射線發(fā)生裝置報價，組合采用光電自準(zhǔn)直儀和小角度激光干涉儀等儀器，設(shè)計了一種新的XRD的角度校準(zhǔn)方法，它能夠自動快速地連續(xù)測量角度，取k=2時，擴(kuò)展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數(shù)據(jù)，可用于修正XRD測角誤差，提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統(tǒng)等其他需要角度校準(zhǔn)的情況.

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