fct功能測(cè)試涉及模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路，通常要用不同的測(cè)試策略。測(cè)試包括大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證(確定沒(méi)有硬件錯(cuò)誤)，以彌補(bǔ)前面測(cè)試過(guò)程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵(lì)不斷加到被測(cè)單元(UUT)上，同時(shí)監(jiān)測(cè)同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng)，并完全控制其執(zhí)行過(guò)程。

fct功能測(cè)試是在終系統(tǒng)測(cè)試或集成測(cè)試之前，可用于線(xiàn)路板或模塊

FCT功能測(cè)試的分類(lèi)

功能測(cè)試依據(jù)控制模式的不同，可以分為手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試、全自動(dòng)控制功能測(cè)試。早的功能測(cè)試，主要以手動(dòng)和半自動(dòng)方式為主。即使現(xiàn)在，F(xiàn)CT自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，對(duì)于一些簡(jiǎn)單的被測(cè)板的功能測(cè)試，基于簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和減少制作成本考慮，我們有時(shí)還是會(huì)采用手動(dòng)或者半自動(dòng)的測(cè)試方案。隨著科技的發(fā)展，為了節(jié)約生產(chǎn)成本，現(xiàn)在的功能測(cè)試絕大多數(shù)都是使用全自動(dòng)的方案。另一種更普遍的分類(lèi)是依據(jù)功能測(cè)試的控制器類(lèi)型來(lái)分。在功能測(cè)試中，我們通常用的控制方式有MCU控制方式、嵌入式CPU控制方式、PC控制方式、PLC控制方式等。

FCT測(cè)試工裝的詳細(xì)介紹通用功能測(cè)試儀性能特點(diǎn)：1。采用USB2。0通信接口，即插即即用。2。內(nèi)含8路14位AD，DA轉(zhuǎn)換器，四路八位數(shù)字通道及32個(gè)開(kāi)關(guān)矩陣通道（可擴(kuò)展），實(shí)現(xiàn)對(duì)不同數(shù)字量，模擬量的采集。如：電壓、電流……3。驅(qū)動(dòng)能力——四路0-33V、10A可程控電源。4。適用于儀器儀表行業(yè)產(chǎn)品功能測(cè)試，可根據(jù)客戶(hù)需求開(kāi)發(fā)不同的接口電路實(shí)現(xiàn)對(duì)不同產(chǎn)品的功能測(cè)試。

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