FCT測試系統(tǒng)接口

隨著自動測試技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的人工測試正在逐漸被自動測試所取代。GPIB和PXI等標(biāo)準(zhǔn)總線的出現(xiàn)大大簡化了自動測試系統(tǒng)的開發(fā)復(fù)雜度，構(gòu)建測試系統(tǒng)變成了組合各種儀器模塊。(2)是對PCB的信號進(jìn)行調(diào)理，使調(diào)理后的信號能夠滿足測試儀器的量程范圍。但是UUT的類型還是復(fù)雜多樣的，尤其信號類型也千變?nèi)f化；因此，設(shè)計(jì)一個(gè)良好的連接UUT和測試資源TR的測試接口ITA，是簡化測試系統(tǒng)復(fù)雜度的關(guān)鍵。

fct功能測試治具定位原理

以外緣輪廓定位

對于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板，可采用外輪廓定位方式。長邊用定位板，限制2個(gè)自由度；短邊用定位針，限制1個(gè)自由度。在另一短邊，還可以增加1只定位針，形成所謂的約束性過定位。FCT測試系統(tǒng)分類按操作模式依操作模式的不同，功能測試系統(tǒng)可以分為手動控制功能測試、半自動控制功能測試、全自動控制功能測試。這種方式中，兩根定位柱所限位的尺寸應(yīng)比UUT尺寸略大，在0.3mm～0.5mm即可。雖然由于此間隙的存在，定位精度會略有降低，但操作方便、制造簡單。

以“邊/孔”定位對于面積尺寸較大的電路板，可以采用“邊/孔”定位，這也屬于約束性過定位的一種。定位板限制2個(gè)自由度，定位柱限制2個(gè)自由度。這種形式中，通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。

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以“孔/孔”定位

對于狹長形的UUT，由于其容易變形，使用上述1和2的方式均需要用到電路板的外緣輪廓，因此并不準(zhǔn)確，此時(shí)應(yīng)采用雙孔定位。注意對于變形較大的UUT，此孔的位置也不宜選在電路板的兩端，但兩孔間距也不宜過小，設(shè)計(jì)時(shí)定位柱和定位孔的間隙適量放大，一般在0.1mm～0.3mm。綜上可見，電路板的定位對于治具設(shè)計(jì)極為重要，不同的定位方式直接影響到定位精度及測試設(shè)備的結(jié)構(gòu), 因此定位方式的選擇很重要。綜合考慮以上各種現(xiàn)行方案的優(yōu)缺點(diǎn)，設(shè)計(jì)為 “一面兩空”的定位方式，如下如所示，即利用UUT的一個(gè)平面和兩個(gè)（或多個(gè)）定位孔，特點(diǎn)是制取方法容易、夾具結(jié)構(gòu)簡單、制造加工容易,、滿足精度要求。測試包括大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證（確定沒有硬件錯(cuò)誤），以彌補(bǔ)前面測試過程遺漏的部分。