鹽霧實(shí)驗(yàn)機(jī)對金屬原料的腐蝕，首要是導(dǎo)電的鹽溶劑進(jìn)入金屬內(nèi)部發(fā)作電化學(xué)反響，構(gòu)成“低電位金屬－電解質(zhì)溶劑－高電位雜質(zhì)”微電池體系，發(fā)作電子搬運(yùn)，作為陽極的金屬呈現(xiàn)溶解，構(gòu)成新的化合物即腐蝕物。

金屬維護(hù)層和有機(jī)原料維護(hù)層也相同，當(dāng)作為電解質(zhì)的鹽溶劑進(jìn)入內(nèi)部后，便會構(gòu)成以金屬為電極和金屬維護(hù)層或有機(jī)原料為另一電極的微電池。

鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱為人工氣候環(huán)境“三防”(濕熱、鹽霧、霉菌)試驗(yàn)設(shè)備之一，是模擬大氣中含鹽微小液滴所構(gòu)成的 彌散系統(tǒng)的設(shè)備。被廣泛應(yīng)用于對電子、電工及汽車、摩托車、五金工具等產(chǎn)品、零部件、金屬材料與制品的鍍、涂層等進(jìn)行鹽霧腐蝕試驗(yàn)。性能指標(biāo)符合GB/T5170.8《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的要求。該鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱可按GB/T2423.17《電子電工產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法》本系列產(chǎn)品設(shè)計(jì)生產(chǎn)執(zhí)行國家GB/T10587《鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。以及等效的IEC、DIN、MIL、ASTM等標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行各種鹽霧試驗(yàn)。

儀器設(shè)備自身的出現(xiàn)偏差的原因：這一便是因?yàn)橐恍┥a(chǎn)廠家的不技術(shù)專業(yè)導(dǎo)致的，例如設(shè)計(jì)方案、生產(chǎn)制造和計(jì)量檢定等并不大健全，或是是采用了較弱的電子器件和機(jī)械零部件，時(shí)間一長就導(dǎo)致這種零部件的磨壞，就特別容易造成數(shù)據(jù)信息不;也有一些輔助設(shè)備或是是配件，也會造成實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)信息的出現(xiàn)偏差的原因; 　　

試件自身不穩(wěn)定：實(shí)驗(yàn)是必須一定時(shí)間的，假如在實(shí)驗(yàn)時(shí)間內(nèi)試件不穩(wěn)定而產(chǎn)生變化，那即便 有特性再好的鹽霧試驗(yàn)箱也是沒法獲得恰當(dāng)?shù)膶?shí)驗(yàn)結(jié)果;