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一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測(cè)量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
鍍層厚度分析儀使用注意事項(xiàng)
1.儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線(xiàn)插頭連到一個(gè)已接地的插座上。
2.鍍層厚度分析儀為精密儀器,建議配備的穩(wěn)壓電源。計(jì)算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源(UPS)。
3.鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場(chǎng)合隔離開(kāi)來(lái)。
4.儀器適合在10~40℃(50~104℉)的環(huán)境溫度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間(非冷凝)。在操作過(guò)程中,環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定。
5.儀器曝曬在陽(yáng)光下時(shí)溫度極易超過(guò)50℃。所以請(qǐng)不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器,以避免高溫對(duì)儀器造成損害。
6.為避免短路,嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器,請(qǐng)立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請(qǐng)技術(shù)人員整體檢查儀器。
7.鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場(chǎng)合。
8.不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片,否則會(huì)造成讀數(shù)錯(cuò)誤。
9.不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話(huà),可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。
江蘇一六儀器有限公司是一家專(zhuān)注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀
X熒光光譜儀原理及應(yīng)用領(lǐng)域
一、簡(jiǎn)單原理
每個(gè)元素受高能輻射激發(fā),即發(fā)射出具有一定特征的X射線(xiàn)譜線(xiàn)。通過(guò)軟件測(cè)試分析得出該譜線(xiàn)波長(zhǎng),即可知道是那種元素(定性);通過(guò)分析測(cè)試其強(qiáng)度,得出該元素含量(定量)。X熒光光譜分析是一種非常常見(jiàn)的分析技術(shù),
二、應(yīng)用領(lǐng)域
X熒光光譜儀作為一種常見(jiàn)的分析技術(shù)手段,在現(xiàn)實(shí)生活中有著非常廣泛的應(yīng)用,主要可以分為以下四大類(lèi):
1.鍍層行業(yè)
電鍍行業(yè)尤其以工業(yè)電鍍?yōu)橹鳎诠I(yè)生產(chǎn)中,通常我們?yōu)榱水a(chǎn)品尤其是金屬類(lèi)能達(dá)到一定的性能會(huì)在其表面鍍上另一種金屬,這種金屬電鍍的膜厚往往是受管控,而X熒光光譜儀就是其best的管控者。
2.重金屬檢測(cè)
我們的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等這些都跟我們有著緊密的關(guān)聯(lián),但這其中也許就含有對(duì)我們?nèi)梭w是有害的重金屬,如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等長(zhǎng)期接觸會(huì)導(dǎo)致人體的病變甚至,為了使用安全,工業(yè)生產(chǎn)時(shí)需對(duì)產(chǎn)品重金屬檢測(cè)管控(RoHS檢測(cè)),而X熒光儀器就能對(duì)其進(jìn)行監(jiān)測(cè)。古董的檢測(cè)X熒光儀器在古董的檢測(cè)鑒定上也起著重要的作用,通過(guò)儀器檢測(cè)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行定性分析可得其元素成分,從而對(duì)產(chǎn)品的年限進(jìn)行一個(gè)判斷,得出結(jié)論。
3.元素成分分析
元素成分分析應(yīng)用也是更加廣泛,如巖石礦產(chǎn)的開(kāi)發(fā)開(kāi)采,鋼鐵、銅合金、鋁合金等可能因某一種元素的含量不同就會(huì)大大改變其物理性質(zhì),為達(dá)到這種物理性質(zhì)就需要控制相關(guān)元素的含量,通過(guò)X熒光儀器的檢測(cè)就可以很好的生產(chǎn)出我們所需的物品,另外還可以利用成分分析原理對(duì)珠寶首飾進(jìn)行真假鑒定。我們專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專(zhuān)家通力合作,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀先進(jìn)的技術(shù),專(zhuān)業(yè)的團(tuán)隊(duì),嚴(yán)格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶(hù)信賴(lài)的根本所在。
4.古董的檢測(cè)
X熒光儀器在古董的檢測(cè)鑒定上也起著重要的作用,通過(guò)儀器檢測(cè)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行定性分析可得其元素成分,從而對(duì)產(chǎn)品的年限進(jìn)行一個(gè)判斷,得出結(jié)論。
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
江蘇一六儀器 X射線(xiàn)熒光光譜測(cè)厚儀在電鍍行業(yè)的應(yīng)用
由于每一種元素的原子能級(jí)結(jié)構(gòu)都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線(xiàn)的能量也是特定的,稱(chēng)之為特征X射線(xiàn)。通過(guò)測(cè)定特征X射線(xiàn)的能量,便可以確定相應(yīng)元素的存在,而特征X射線(xiàn)的強(qiáng)弱(或者說(shuō)X射線(xiàn)光子的多少)則代表該元素的含量或厚度。
PCB線(xiàn)路板主要有鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍銀,鍍錫等種類(lèi)。其電鍍工藝流程如下:
浸酸→全板電鍍銅→圖形轉(zhuǎn)移→酸性除油→二級(jí)逆流漂洗→微蝕→二級(jí)浸酸→鍍錫→二級(jí)逆流漂洗→浸酸→圖形電鍍銅→二級(jí)逆流漂洗→鍍鎳→二級(jí)水洗→浸檸檬酸→鍍金→回收→2-3級(jí)純水洗→烘干。
對(duì)于PCB生產(chǎn)企業(yè)來(lái)說(shuō),厚度的有效控制能做到有效的節(jié)約成本,又能滿(mǎn)足客戶(hù)需求,做到耐氧化、耐磨等。而X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚法是PCB工業(yè)檢測(cè)電鍍厚度的有效手段。下面介紹一款x射線(xiàn)熒光膜厚測(cè)厚儀XTU-BL。利用XRF無(wú)損分析技術(shù)檢測(cè)鍍層厚度的儀器就叫X射線(xiàn)測(cè)厚儀,又膜厚測(cè)試儀,鍍層檢測(cè)儀,XRF測(cè)厚儀,PCB鍍層測(cè)厚儀,金屬鍍層測(cè)厚儀等。X射線(xiàn)能同時(shí)實(shí)現(xiàn)多鍍層厚度分析。x射線(xiàn)熒光膜厚測(cè)厚儀為集成電路的發(fā)展,PCB線(xiàn)路板加工業(yè)的質(zhì)量保駕護(hù)航。在實(shí)際應(yīng)用中,多采用實(shí)際相近的鍍層標(biāo)注樣品進(jìn)行比較測(cè)量(即采用標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)法進(jìn)行對(duì)比測(cè)試的方法)來(lái)減少各層之間干擾所引起的測(cè)試精度問(wèn)題。
江蘇一六儀器 X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀 元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)
厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
x射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀(國(guó)產(chǎn))是一款針對(duì)金屬電鍍層(鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等)厚度的,通過(guò)X熒光照射出產(chǎn)品,每個(gè)元素反射出的二次特征譜線(xiàn),通過(guò)檢測(cè)器分析出強(qiáng)度來(lái)金屬鍍層的厚度,完全達(dá)到無(wú)損、快速分析的效果,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍企業(yè)(鋁平行管、電鍍五金),連接器企業(yè)、開(kāi)關(guān)企業(yè)等。可靠性高:由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為干擾因素,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。
x射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
minimum φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)x射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)
分析含量一般為2ppm到99.9%