冷熱沖擊試驗(yàn)箱（冷熱沖擊箱、變頻高低溫冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱）

冷熱沖擊試驗(yàn)箱一般指高低溫沖擊試驗(yàn)箱

高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的必不可少的一項(xiàng)測(cè)試箱。高低溫沖擊試驗(yàn)箱低溫槽溫度：（A：-65），（B：-70），（D：-80）~-10℃。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱（冷熱沖擊箱、變頻高低溫冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱）

冷熱沖擊試驗(yàn)箱一般指高低溫沖擊試驗(yàn)箱

冷熱沖擊試驗(yàn)箱（也叫溫度沖擊試驗(yàn)箱）是用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì).適用的對(duì)象包括電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)及工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。預(yù)處理：將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱（冷熱沖擊箱、變頻高低溫冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱）

冷熱沖擊試驗(yàn)箱：溫濕度震動(dòng)三綜合試驗(yàn)設(shè)備性能參數(shù)

內(nèi)箱尺寸：W(寬)1150 mm*H(高)1070 mm*D(深)1150 mm;

冷熱沖擊試驗(yàn)箱箱尺寸：按圖紙，外部尺寸請(qǐng)依終設(shè)計(jì)確認(rèn)三視圖為準(zhǔn);

條件：指環(huán)境溫度在 25℃及水冷水溫 27℃，空載(部份參數(shù)依備注)無試樣時(shí);

備注：線性降溫標(biāo)準(zhǔn)參照GB/T 5170.1-2008 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則 第3.2.11條定義;

溫/濕度范圍:-70℃至 150℃ / 20%至98%RH;

溫/濕度分辨率:溫度：0.01℃、濕度：0.1％RH;

冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫/濕度波動(dòng)度:±0.3℃/±2.5%RH

溫/濕度偏差：≤±2℃  /   A)>75%RH:≤ 2,-3%RH，B)<75%RH:≤±5%RH ；

冷熱沖擊試驗(yàn)箱升溫時(shí)間：-40℃升至80℃約60分鐘，非線性2℃/分鐘（負(fù)載50KG鋁）；

降溫時(shí)間: 80℃降至-40℃約60分鐘，非線性2℃/分鐘 （負(fù)載50KG鋁）;

溫度均勻度:≤±2℃；

大負(fù)載：約等效50KG鋁；