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2.5次元影像測量儀與二次元影像儀的區(qū)別有哪些呢?
2.5次元測量儀,是指在二次元的基礎(chǔ)上,以光學(xué)影像測量可測高度及深度,或者在鏡頭上加個測針,用光學(xué)鏡頭測量平面尺寸、用測針進行接觸式測量可測深度,達到3維測量的效果,但此3維測量僅是簡易的3D測量,未能真正地實現(xiàn)3維全部空間尺寸的測量,因此被稱為2.5次元。
適用于各種材料的非接觸式三維表面分析NanoFocus測量系統(tǒng)能夠快速、有效地對幾乎所有材料——從金屬、玻璃、陶瓷、半導(dǎo)體、聚合物到有機材料——進行三維表面分析。共焦技術(shù)能夠測量各種表面反射特性的材料并獲得有效的測量數(shù)據(jù)。采用NanoFocus技術(shù)的μsurf、μscan和μsprint能夠在生產(chǎn)和加工的不同階段對敏感表面進行無損測量,透明涂層表面和層厚也可以同時測量。
無需樣品制備即可在幾秒鐘內(nèi)獲取真正的3D數(shù)據(jù),進而對表面進行定性和定量的評估。NanoFocus為測量數(shù)據(jù)的分析提供了強大的綜合軟件解決方案以便確定相關(guān)參數(shù)。
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