如何降低光纖熔接損耗?

  挑選經(jīng)驗豐富訓(xùn)練有素的光纖接續(xù)人員進行接續(xù)現(xiàn)在熔接大多是熔接機自動熔接，但接續(xù)人員的水平直接影響接續(xù)損耗的大小?，F(xiàn)在的工業(yè)用儀器，廠家為了技術(shù)保密，一般不向用戶提供詳細(xì)的技術(shù)圖紙，給用戶維修工作造成不便。接續(xù)人員應(yīng)嚴(yán)格按照光纖熔接工藝流程圖進行接續(xù)，并且熔接過程中應(yīng)一邊熔接一邊用OTDR測試熔接點的接續(xù)損耗。不符合要求的應(yīng)重新熔接，對熔接損耗值較大的點，反復(fù)熔接次數(shù)以3～4次為 宜，多根光纖熔接損耗都較大時，可剪除一段光纜重新開纜熔接。

2M誤碼儀

      2M誤碼儀用2Mb/s N*64Kb/s誤碼測試、離線測試、FAS、CRC-4、E-BIT等測試的儀器，如Enovo的3120C一樣，測試結(jié)果擁有很高的準(zhǔn)確率。

基本功能：

離線測試(中斷業(yè)務(wù)測試，75ohm匹配測試)/在線測試(跨接高阻測試)

成幀/非成幀測試

2Mb/s N*64Kb/s誤碼測試

FAS、CRC-4、E-BIT等測試

具有單時隙語音功能;

發(fā)送時鐘可選

單誤碼插入或比率誤碼插入功能

各種告警插入功能

LED告警和狀態(tài)指示

可選ITU-TG.

821,G. 826和M. 2100標(biāo)準(zhǔn)進行測試結(jié)果分析

2M誤碼儀主要參數(shù)

DEB100E

接口：標(biāo)配75ohm,

高阻，選配：120ohm

幀型：無幀，P31,P31C,P30,P30C

內(nèi)部測試序列：偽隨機序列: 2^11-1(PR11), 2^15-1(PR15)

固定碼:

0000(SPACE),1111(MARK),1010(ALT)

告警檢測和插入：LOS, AIS,LOF, RA

誤碼插入：Single,

10E-3, 10E-6

單時隙：除Ts0外任意單個時隙

時鐘源選擇：內(nèi)部時鐘(Internal)，接收回復(fù)時鐘(Receive)

存儲:99條

電源：4節(jié)5號電池或外接電源

尺寸：200mm(L)

* 100mm(W) * 44mm(H)

重量：500g

測試標(biāo)準(zhǔn)：G.821，G.826,M.2100

OTDR使用中的經(jīng)驗與技巧?：正增益現(xiàn)象處理

正增益現(xiàn)象處理：

　　在OTDR曲線上可能會產(chǎn)生正增益現(xiàn)象。正增益是由于在熔接點之后的光纖比熔接點之前的光纖產(chǎn)生更多的后向散光而形成的。事實上，光纖在這一熔接點上是熔接損耗的。常出現(xiàn)在不同模場直徑或不同后向散射系數(shù)的光纖的熔接過程中，因此，需要在兩個方向測量并對結(jié)果取平均作為該熔接損耗。在實際的光纜維護中，也可采用≤0.08dB即為合格的簡單原則。清潔裸光纖時，強烈推薦操作員使用快速揮發(fā)的，非可燃的精密清潔液。