如何降低光纖熔接損耗?

 光纜架設(shè)按要求進行在光纜敷設(shè)施工中，嚴禁光纜打小圈及折、扭曲，3km的光纜必須80人以上施工，4km必須100人以上施工，并配備 6～8部對講機；另外“前走后跟，光纜上肩”的放纜方法，能夠有效地防止打背扣的發(fā)生。牽引力不超過光纜允許的80％，瞬間大牽引力不超過100％，牽引力應(yīng)加在光纜的加強件上。（4）熱縮管收縮后粘到了加熱板上使用棉簽或其他將其清除，請小心操作并注意不要損傷設(shè)備。敷設(shè)光纜應(yīng)嚴格按光纜施工要求，從而低限度地降低光纜施工中光纖受損傷的幾率，避免光纖芯受損傷導(dǎo)致的熔接損耗增大。

新手使用光纖熔接機易犯的幾個錯誤（5）

光纖過度彎曲：

   所有的光纜都有自己的小彎曲半徑，因此，我們在進行光纜施工時，要注意不能超過光纜的低彎曲半徑，以避免損壞光纜及護套內(nèi)的光纖。

   過度彎曲發(fā)生在光纜的膨脹圈(slack loop)過緊并被安置在過小的基座，手孔上。類似“雪鞋”的產(chǎn)品用于幫助光纜施工者避免架空膨脹圈過緊的問題。過彎曲還經(jīng)常發(fā)生在施工者采用老鼠耳或者扣條來固定架空光纜時。

   過度彎曲也會發(fā)生在熔接盤中。一個通常的場景就是當(dāng)小的熔接盤和60mm的熔接套管配合使用時，而不是應(yīng)該的40mm套管。大的套管會太靠近熔接盤的邊緣，不給光纖留出足夠的彎曲半徑。

   過度彎曲會帶來什么問題？當(dāng)你用OTDR進行測試時就能看到問題。過彎曲經(jīng)常只有在用1550nm或者1625nm波長測試時才能發(fā)現(xiàn)。多數(shù)單模光纖工作在1310nm下，這個波長對彎曲敏感度低一點。建議定期(至少一年一次)對設(shè)備進行保養(yǎng)，以保證良好的熔接質(zhì)量。然而，今天更多的光纖系統(tǒng)應(yīng)用1550nm和1625nm波長。這些波長對光纖中的問題更加敏感。那些在1310nm下用OTDR看不出的問題到了這兩個波長下可能就有很大的問題，而解決之道就是避免過度彎曲。

   光纖彎曲半徑過大帶來信號衰減 。

OTDR脈沖寬度和平均時間設(shè)置

  理論上講，對于同一段光纖，脈沖寬度越大，距離測試誤差就越大。但是若脈沖寬度很小，則不能準確識別光纖末端與噪聲電平的界線。OTDR操作人員應(yīng)根據(jù)實際情況選擇適當(dāng)?shù)拿}沖寬度，原則是在保證能識別光纖末端的情況下，盡可能地小地設(shè)置脈沖寬度。

在保證能識別光纖末端的情況下，盡可能小地設(shè)置脈沖寬度

   一般來說，很難機械地定義測試距離與所用脈沖寬度的關(guān)系，因為每根光纖的衰耗不同，很難用標準的尺度去衡量到底用多大的脈沖寬度去測試一定距離的光纖。但是，有兩個原則是必須把握的：

  1、用盡可能小的脈沖寬度去測試光纖，這樣距離和衰耗的精度才能得到保證。只有脈沖寬度小到能夠能夠看到大致的曲線形狀，就可以通過平均來測出曲線。

  2、當(dāng)OTDR脈沖寬度確定以后，所選取的平均時間應(yīng)該足夠長，一般在15秒至60秒之間。被測光纖越長，平均時間約長（同時脈沖寬帶也約大）。

如何清理光纖熔接機？

CCD鏡頭和反光鏡的清潔  

通常，光纖熔接機通過兩個成直角布置的CCD成像來觀測光纖，CCD前面是帶有聚焦作用的鏡頭。如果鏡頭變臟或附有灰塵，令熔接機無法正常觀測光纖，從而導(dǎo)致無法熔接或熔接損耗加大。  

一般日常使用過程中，僅需使用汽吹，將附著在鏡頭上的灰塵吹除就行。鏡頭的清潔具體過程如下：  

(1)關(guān)閉熔接機電源，打開防風(fēng)蓋；  

(2)卸下兩側(cè)電極；  

(3)用蘸有酒精的細棉簽輕輕的擦拭顯微鏡的鏡片（從中間螺旋向外擦），每擦一次更換一次棉簽。  

(4)然后用干凈的干棉簽擦去遺留的酒精（操作方法同上），觀察顯微鏡鏡片，確認其干凈無贓物。  

(5)光纖熔接機開機后做一次灰塵檢查，確認鏡頭干凈。  

注意：清潔時不可碰到電極，不可用硬物觸及鏡頭。  

反光鏡位于防塵蓋上，其清潔方法與上述類似。目前大多數(shù)新款的光纖熔接機都采用了可靠性更高的無反光鏡設(shè)計。