KOAN 晶振（OCXO ）關于長期穩(wěn)定性和短期穩(wěn)定性的概念解釋

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對長期頻率穩(wěn)定度這一技術指標，通常不以頻率穩(wěn)定度稱呼，而改稱為老化或者漂移，只有由噪聲引起的頻率不穩(wěn)定性才稱為頻率穩(wěn)定度或者短期頻率穩(wěn)定度，由于環(huán)境溫度，供電電源電壓和振蕩器負載阻抗變化引起的頻率變化，也不以頻率穩(wěn)定度相稱，依次稱之為頻率溫度特性，電源特性和負載效應。短期頻率穩(wěn)定度可稱為相位噪聲（頻域）與抖動（時域），相位噪聲還可細分為近端，中端和遠端相位噪聲，抖動很難表征近端和中端區(qū)域，因此短期穩(wěn)定度是采用頻域表征。

KOAN 溫補晶振和恒溫晶振的頻率老化率對比

說明： TCXO 的頻率老化率為： ±0.2ppm～±2ppm （首年）和±1ppm～±5ppm （十年） （除特殊情況，TCXO 很少采用每天頻率老化率的指標，因為即使在實驗室的條件下，溫度變化引起的頻率變化也將大大超過溫度補償晶體振蕩器每天的頻率老化，因此這個指標失去了實際的意義）。OCXO 的頻率老化率為： ±0.5ppb～±10ppb/天（加電 72 小時后），±30ppb～±2ppm（首年），±0.3ppm～±3ppm（十年）。

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影響 KOAN 恒溫晶振頻率漂移（老化）的主要機理

1) 引起晶振頻率漂移的是石英諧振器的參數(shù)，動態(tài)電容和動態(tài)電感隨時間而變化；

2) 加在石英片的機械應力變化引起的頻率漂移，稱為馳豫效應；

3) 晶片表面污染和或封裝盒內(nèi)部污染也是造成諧振器老化的一個重要原因；

4) 流過諧振器激勵電流的大小對老化率有影響；

5) 振蕩電路和恒溫控制電路中有源和無源元件的老化也會影響振蕩頻率的老化率。

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1）相位噪聲：是指信號功率與噪聲功率的比率（C/N），是表征頻率顫抖的技術指標。在對預期信號既定補償處，以1Hz帶寬為單位來測量相位噪聲；

2）頻譜純度：頻率穩(wěn)定度的一種頻域量度，它通常用信號邊帶的噪聲功率譜中每赫茲帶寬的噪聲功率相對于總信號功率的分貝數(shù)來表示；

3）諧波失真：用不希望的信號頻譜分量與有用信號頻率的諧波關系描述的非線形失真；

4）再現(xiàn)性：振蕩器經(jīng)過規(guī)定的時間間隔，再加電一段時間后返回原來頻率的能力；

5）輸出功率：施加規(guī)定電壓和規(guī)定負載下，振蕩器消耗的電能，用電壓與消耗電流的積表示；

6）輸出電壓（正弦波）：施加規(guī)定的電壓和負載，在規(guī)定的時間內(nèi)達到穩(wěn)定后，用RF表測得的有效值或用示波器測量電壓峰-峰值后換算的有效值。

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