江蘇一六儀器有限公司是一家光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的企業(yè)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。b在搬運、安裝和調(diào)試的全過程中，工程項目部必須對施工人員設置安全防護監(jiān)督崗，使其嚴格執(zhí)行同位素操作的有關規(guī)定。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。歡迎咨詢聯(lián)系！

如何選擇測厚儀的測點

    如何選擇測厚儀的測點位置？我們想要使用測厚儀測量物品厚度，前提是有測點位置，相當于我們的需要選擇一個固定點為零值一樣，如此才能夠測量出具體厚度。

 1、鋼結構柱、梁,在構件長度方向內(nèi)每隔1m取一截面,測試構件各表面的涂層厚度,計算所有測點的平均值作為該根構件的涂刷厚度.

   2、桁架結構、梁,在上、下弦和腹桿的長度方向內(nèi)每隔1m取一個截面,測定桿件各表面的涂層厚度,計算所有測點的平均值作為該根構件的涂層厚度.頂板和鋼樓梯,在每平方范圍內(nèi)選取5個點進行測定,計算所有測點的平均值作為該構件的涂層厚度.

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。而國產(chǎn)的一般有4-5個標準片，不同厚度有不同的標準片，進口的則只有一個標準片的。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內(nèi)層電子的功函數(shù)。測厚儀分類：一、磁性式二、渦電流式三、紅外測厚儀四、電解式（庫倫法）五、金相測試法六、非破壞熒光式（X光）具體講下渦流測厚儀原理如下：1。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

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性能優(yōu)勢：

  下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

  無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

  微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

  率的jie shou qi ：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

  精密微型滑軌：快速精準定位樣品。

  EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

測厚儀和膜厚儀一樣嗎

  測厚儀和膜厚儀是不一樣的，膜厚儀屬于測厚儀的分類，也就是說測厚儀是膜厚儀的上司一樣，對此我們也可以來了解下測厚儀跟膜厚儀的一些概念：

測厚儀：凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。高精度測厚儀,多薄多復雜組合的鍍層分析,一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的儀器都能滿足您的使用。可以對各種板材和加工零件作準確測量，另一重要方面是可以對生產(chǎn)設備中各種管道和壓力容器進行監(jiān)測，監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。

如何安裝X射線測厚儀

2) C型架按運行軌跡定位，并作感觀質(zhì)量檢查。

   3) C型架落入導軌后，就進行冷卻水管、壓縮空氣的軟管及同軸電纜的連接。上述軟管及電纜應順著撓性履帶的走向固定牢固。

   4) 儀表柜、主控臺，就地控制箱和前置放大器箱的安裝，根據(jù)現(xiàn)場施工條件分頭進行吊裝。

   5) 電纜敷設，除同軸電纜外還包括控制系統(tǒng)電纜和測量信號系統(tǒng)電纜。