顯微鏡比對(duì)模式

顯微鏡比對(duì)模式： 1、 可將實(shí)時(shí)影像中的實(shí)際工件進(jìn)行拍照（包含影像上所標(biāo)注的尺寸及線條圖形），并可以JPEG格式儲(chǔ)存于計(jì)算機(jī)中，形成產(chǎn)品圖庫(kù)。 2、 可將存于圖庫(kù)中的JPEG圖檔打開，并與同一畫面中實(shí)時(shí)的影像相互比對(duì)。 注： 1、影像式金相測(cè)量顯微鏡可將以往用肉眼在傳統(tǒng)顯微鏡下所觀察之影像將其數(shù)字化并轉(zhuǎn)換至計(jì)算機(jī)中作各式的繪圖及測(cè)量，再可將所得到的數(shù)據(jù)及圖形數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于計(jì)算機(jī)中，以便數(shù)據(jù)存盤及電子郵件發(fā)送。 2、適用于微型芯片電路檢測(cè)、PCB板或其它金屬鍍層厚度檢測(cè)，金屬表面結(jié)構(gòu)分析及其它高倍顯微檢測(cè)。用途：可供觀察和檢測(cè)各種PCB線路板、LCD液晶顯示板、金屬金相組織，研潤(rùn)企業(yè)生產(chǎn)其舒適精致的鏡體機(jī)構(gòu)、輕松快捷的操作方式，是工礦企業(yè)工業(yè)光學(xué)檢測(cè)儀器及學(xué)校金相教學(xué)用儀器的；流線型、高穩(wěn)定性的鏡體設(shè)計(jì)，使用方便、功能齊全，適合在單偏光、正偏光及錐光下觀察礦物的晶體形狀、著色、干涉色等，并準(zhǔn)確地鑒定各種礦物或其它晶體試樣薄片的光學(xué)性質(zhì)。.

正置與倒置金相顯微鏡的區(qū)別

了解正置與倒置金相顯微鏡的主要區(qū)別： 倒置金相顯微鏡:主要適用對(duì)各種金屬和合金材料的組織結(jié)構(gòu)、鑄件質(zhì)量以及熱處理后相位組織進(jìn)行研究分析工作，是金屬學(xué)研究的必備儀器，由于試樣的觀察面倒置不受高度限制，在制備試樣時(shí)只要一個(gè)觀察面平整即可。 正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3 微米小于20微米觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

金相顯微鏡在選購(gòu)中的注意事項(xiàng)

金相顯微鏡在選購(gòu)中的注意事項(xiàng) 金相顯微鏡是高價(jià)值、高精密的光學(xué)儀器，其核心部份是光學(xué)成像系統(tǒng)，產(chǎn)品品質(zhì)的好壞關(guān)系到成像的效果和分析判斷的準(zhǔn)確性。選購(gòu)金相顯微鏡時(shí)要注意以下幾點(diǎn)： 在成像質(zhì)量方面要同時(shí)滿足四個(gè)基本條件。金相顯微鏡是利用光學(xué)成像原理獲得金屬顯微組織圖像（即金相圖譜），而后對(duì)金相圖譜進(jìn)行定性定量分析，成像質(zhì)量的高低是衡量金相顯微鏡品質(zhì)好壞的首要指標(biāo)。要獲得清晰的圖像必須滿足高反差、高亮度、色還原好和高分辨率這四個(gè)基本條件。而前三個(gè)條件正是用戶選型時(shí)忽略的，用戶選購(gòu)時(shí)切忌盲目追求分辨率而忽略其它三個(gè)方面，只有這樣才能做到物有所值，物盡其用。