本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M行量子效率測試的系統(tǒng)。

產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應顯微鏡下的微距量測口徑。

FE3000反射式膜厚量測儀:產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設定激發(fā)光源的波長及步值，實現(xiàn)自動測量

電流-量子效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

熒光材料樣品所反射的激發(fā)光，在積分球內(nèi)壁上反射，并再次照射到熒光材料樣品上，發(fā)出熒光的現(xiàn)象叫做再激發(fā)。為了修正這個熒光發(fā)光的成份，如圖所示，改變Xe激發(fā)光（投光用光纖）的角度，將激發(fā)光的照射點改為樣品口的硫i酸鋇（或Spectralon）一面來進行測試。這樣可以將對積分球內(nèi)壁上漫反射引起的再激發(fā)熒光成份進行測試，實行修正。

電腦裝有Windows XP Professional或Windows 7作為操作系統(tǒng)，考慮到網(wǎng)絡安全和病毒的防止，將安裝諾頓網(wǎng)絡安全特i警或諾頓反病毒軟件。本程序從安裝日開始計算，在連接網(wǎng)絡的情況下可維持1年的i新狀態(tài)。之后如要更新，請自行購買。

解析非線性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/適化法

基板解析/里面反射補正/各類nk解析模型式

絕i對反射率/解析結(jié)果Fitting/折射率n的波長相關性/消光系數(shù)k的波長相關性

3D顯示功能（面內(nèi)膜厚分布、鳥窺圖、等高線、斷面圖）