直讀光譜儀中小試樣分析的硬件需求

在材質(zhì)分析中，直讀光譜儀以其、快捷、準(zhǔn)確性高等特性正在逐步的取代傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法，但分析材質(zhì)中的小試樣分析一直是個(gè)難點(diǎn)。

困難在于硬件和軟件兩個(gè)方面。東方分析儀器有限公司的分析程序無(wú)論是算法還是結(jié)構(gòu)都早已攻克了軟件困難。今天主要討論一下硬件方面。

光電直讀光譜儀分析試樣有基本要求，試樣與激發(fā)臺(tái)的接觸面應(yīng)為大于激發(fā)孔的平面。因此許多小尺寸的試樣不能直接在光譜儀上測(cè)定。我公司針對(duì)這一問(wèn)題采用了兩種方案來(lái)解決。

1、氮化硼片輔助測(cè)量

氮化硼片如下圖所示，形狀為一圓環(huán)，厚度1mm，內(nèi)徑為4~6mm，氮化硼片的增加有效的減小了激發(fā)孔外徑，因此對(duì)于試樣直徑在6mm以下的試樣可以用氮化硼片輔助進(jìn)行測(cè)量。

1、小試樣夾具輔助測(cè)量

用夾具將試樣夾住，通過(guò)定位孔將試樣放置于與電極相對(duì)的位置，進(jìn)行測(cè)量，試樣要磨平頂端激發(fā)處。小試樣夾具可輔助測(cè)量直徑在5mm-11mm的試樣。

直讀光譜儀的信號(hào)采集與處理方法

一種新型直讀光譜儀的信號(hào)的收集和處理方法，更加適合用在直讀光譜儀周期火花光源的特性中。要根據(jù)直讀光譜儀的分光光路結(jié)構(gòu)組成，以便來(lái)確定待測(cè)光各個(gè)時(shí)間發(fā)生波段反應(yīng)對(duì)應(yīng)的分光光路所處的空間位置，有利于放置與各個(gè)光路波段相對(duì)應(yīng)的光探測(cè)模塊。

對(duì)光探測(cè)模塊輸出的電信號(hào)進(jìn)行倒相處理后送入鎖相放大器的信號(hào)通道進(jìn)行帶通濾波和放大，減少雜散噪聲；將與待測(cè)信號(hào)頻率相同的周期信號(hào)送入?yún)⒖纪ǖ?，調(diào)節(jié)其相位與待測(cè)信號(hào)相同；對(duì)信號(hào)通道與參考信道的輸出信號(hào)進(jìn)行互相關(guān)運(yùn)算，抑制與參考信號(hào)不相關(guān)的噪聲；提取相關(guān)器輸出的低頻成分，得到待測(cè)信號(hào)的幅值和相位信息。3)過(guò)失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。    

這個(gè)方式可縮小光學(xué)系統(tǒng)的體積，減少探測(cè)器投入，探測(cè)靈敏度高，噪聲低，可提高直讀光譜儀的分辨率。

直讀光譜儀器的誤差來(lái)源有哪些？

朗鐸科技——專業(yè)直讀光譜儀供應(yīng)商，我們?yōu)槟鷰?lái)以下信息。

1)系統(tǒng)誤差也叫可測(cè)誤差，一般包括儀器的本身波動(dòng)；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測(cè)方法不一致，這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)有方法上的差異；同一種方法的檢測(cè)結(jié)果也存在一定的波動(dòng)）；待測(cè)樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過(guò)程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。換言之，不是說(shuō)廠商能把產(chǎn)品的品質(zhì)做得多好，而是說(shuō)產(chǎn)品的品質(zhì)要維持一個(gè)穩(wěn)定的水平。

2)偶然誤差是一種無(wú)規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測(cè)時(shí)周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。

3)過(guò)失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不準(zhǔn)確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測(cè)試樣存在制樣偏差，選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。