大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

近紅外光譜主要是由于分子振動(dòng)的非諧振性使分子振動(dòng)從基態(tài)向高能級(jí)躍遷時(shí)產(chǎn)生的，記錄的主要是含氫基團(tuán)X－H（X=C、N、O）振動(dòng)的倍頻和合頻吸收。不同團(tuán)（如甲i基、亞甲i基，1苯環(huán)等）或同一基團(tuán)在不同化學(xué)環(huán)境中的近紅外吸收波長(zhǎng)與強(qiáng)度都有明顯差別，NIR 光譜具有豐富的結(jié)構(gòu)和組成信息，非常適合用于碳?xì)溆袡C(jī)物質(zhì)的組成與性質(zhì)測(cè)量。但在 NIR區(qū)域，吸收強(qiáng)度弱，靈敏度相對(duì)較低，吸收帶較寬且重疊嚴(yán)重。近紅外光譜主要是由于分子振動(dòng)的非諧振性使分子振動(dòng)從基態(tài)向高能級(jí)躍遷時(shí)產(chǎn)生的，記錄的主要是含氫基團(tuán)X－H（X=C、N、O）振動(dòng)的倍頻和合頻吸收。因此，依靠傳統(tǒng)的建立工作曲線方法進(jìn)行定量分析是十分困難的，化學(xué)計(jì)量學(xué)的發(fā)展為這一問(wèn)題的解決奠定了數(shù)學(xué)基礎(chǔ)。

近紅外光譜儀的優(yōu)勢(shì)

適用的樣品范圍廣

通過(guò)相應(yīng)的測(cè)樣器件可以使用近紅外光譜儀直接測(cè)量液體、固體、半固體和膠狀體等不同物態(tài)的樣品光譜測(cè)量方便。而且近紅外光譜儀測(cè)量時(shí)對(duì)樣品無(wú)損傷，可以在分析和醫(yī)i藥臨床領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。這種技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于空氣污染、水污染、食品衛(wèi)生、金屬工業(yè)等的檢測(cè)中。此外，還能夠廣泛地使用于農(nóng)業(yè)食品等各個(gè)行業(yè)和領(lǐng)域，而且同樣都可以發(fā)揮的效果。

自動(dòng)光學(xué)檢查(AOI, Automated Optical Inspection) 為工業(yè)自動(dòng)化有效的檢測(cè)方法，使用機(jī)器視覺(jué)做為檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)，大量應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管與PCB工業(yè)制程上，在民生用途則可延伸至保全系統(tǒng)。自動(dòng)光學(xué)檢查是工業(yè)制程中常見(jiàn)的代表性手法，利用光學(xué)方式取得成品的表面狀態(tài)，以影像處理來(lái)檢出異物或圖案異常等瑕疵，因?yàn)槭欠墙佑|式檢查，所以可在中間工程檢查半成品。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報(bào)廢不可修理的電路板。

光學(xué)測(cè)量的被測(cè)件進(jìn)行分類，主要分為3類：有源器件，無(wú)源器件，高速通信。有源器件主要有：調(diào)制器，發(fā)送器，接收機(jī)，放大器，MUX/DEMUX，光電和電光轉(zhuǎn)換器，以及激光源。無(wú)源器件主要有：濾波器，光纖，光連接器，光分路器，光衰減器。當(dāng)測(cè)量光比較強(qiáng)時(shí)，那么幾乎所有的光譜儀都可以，甚至還需要對(duì)光進(jìn)行衰減，以防止光譜飽和現(xiàn)象出現(xiàn)。高速通信主要有：40G/100G光通信，廣播電視通信，光纖接入，4G通信，光纖無(wú)線電等。