電子元器件加速向精細化、微型化和復(fù)雜化方向發(fā)展之后，眾多從事電子制造的企業(yè)為了減少產(chǎn)品瑕疵，保證良品率，企業(yè)通常都會選擇x ray檢測設(shè)備作為企業(yè)檢測強有力的支撐。

這種趨勢的出現(xiàn)不一定是因為需要PCB組件變得更小，而是因為新設(shè)計大幅采用了更多的隱藏了焊接連接的球柵陣列封裝（BGA）和其他器件，比如方形扁平無引腳封裝（QFN）和柱柵陳列封裝（LGA）。與較大的有引腳封裝相比，這類器件通常在性能和成本方面具有一定優(yōu)勢，所以更小更密的趨勢可能會繼續(xù)保持。x ray檢測設(shè)備勢必會繼續(xù)勢如破竹。

新的在線3DX-RAY可對隱藏的細間距焊點進行準(zhǔn)確的平面分析，如μBGA、QFNs和堆疊封裝 （PoP），極大地提高了X-射線圖像質(zhì)量。

3D X-RAY除了可以檢驗雙層，多層線路板外,還可對那些不可見焊點如BGA等進行多層圖象“切片”檢測，即對BGA焊接連接處的頂部、中部和底部進行檢驗。同時利用此方法還可測通孔（FIE）焊點,檢查通孔中焊料是否充實,從而極大地提高焊點連接質(zhì)量。

可縮短發(fā)現(xiàn)故障和缺陷時間，及時找出故障和缺陷的成因。因此它是目前采用得比較多的一種檢測手段。但AOI系統(tǒng)也存在不足，如不能檢測電路錯誤，同時對不可見焊點的檢測也無能為力。

根據(jù)對各種檢測技術(shù)和設(shè)備的了解，x-ray檢測技術(shù)與上述幾種檢測技術(shù)相比具有更多的優(yōu)點。它可使我們的檢測系統(tǒng)得到較高的提升。為我們提高“一次通過率”和爭取E無缺陷E的目標(biāo)，提供一種有效檢測手段。