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HDI板盲孔互聯(lián)失效原因
除膠渣不凈
去環(huán)氧鉆污或除膠渣是盲孔電鍍前一個(gè)極為重要的流程,它對(duì)孔壁銅與內(nèi)層銅連接的可靠性起著至關(guān)重要的作用。因?yàn)橐粚颖”〉臉渲瑢涌赡軙?huì)使盲孔處于半導(dǎo)通狀態(tài)。在E-TEST測(cè)試時(shí)由于測(cè)針壓力作用可能會(huì)通過測(cè)試,而板件裝配后就可能發(fā)生開路或接觸失靈等問題。然而以手機(jī)板為例,每拼板上大約有7~10萬個(gè)盲孔,除膠處理時(shí)難免偶有閃失?!駵y(cè)試過程數(shù)據(jù)曲線顯示測(cè)試過程中,樣品的溫度,溫度變化速度,電阻,電流分別實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)顯示。
由于目前各廠家的凹蝕藥l水體系都已經(jīng)很完善了,因此只有嚴(yán)密監(jiān)視槽液,在其即將出問題之前,當(dāng)機(jī)立斷更換槽液才能保證應(yīng)有的良率。
威太(蘇州)智能科技有限公司位于昆山國家高新技術(shù)開發(fā)區(qū),是一家專業(yè)提供PCB/PCBA集成測(cè)試系統(tǒng),光學(xué)影像檢測(cè)系統(tǒng),自動(dòng)化測(cè)試解決方案的科技型公司.產(chǎn)品,包括全自動(dòng)激光打標(biāo)影像檢測(cè)機(jī),PCB自動(dòng)高電流測(cè)試機(jī)(HCT), PCB全自動(dòng)多通道高壓測(cè)試機(jī)(Hi-Pot), PCB熱盤高壓測(cè)試機(jī),多通道RF天線測(cè)試系統(tǒng),TDR阻抗測(cè)試系統(tǒng),條形碼批量掃描系統(tǒng)等.
HCT測(cè)試系統(tǒng), CHCT耐電流測(cè)試儀,HCT test system,
★HCT測(cè)試,High current test,耐電流測(cè)試,Current loading test
耐電流測(cè)試是測(cè)試PCB產(chǎn)品的孔互聯(lián)可靠性的一種測(cè)試方法。耐電流測(cè)試是在特殊設(shè)計(jì)的孔鏈上施加一定的直流電流,并持續(xù)一段時(shí)間,電流在孔鏈上產(chǎn)生焦耳熱,熱量傳導(dǎo)到孔附近的基材,基材受熱膨脹, Z方向尺寸變大,產(chǎn)生膨脹應(yīng)力,作用于孔上下焊盤之間,當(dāng)孔的互聯(lián)可靠性不良時(shí),膨脹應(yīng)力會(huì)導(dǎo)致孔斷裂,從而檢測(cè)出孔的互聯(lián)可靠性不良。推薦威太(蘇州)智能科技有限公司CLT系列耐電流測(cè)試系統(tǒng)(HDI盲孔互聯(lián)可靠性測(cè)試),CLPT系列耐電流參數(shù)測(cè)試儀(HDI盲孔互聯(lián)可靠性測(cè)試)。
注意事項(xiàng)
1.操作者必須戴絕緣橡膠手套,腳下墊橡膠墊,以防高壓電擊造成生命危險(xiǎn).2.在連接被測(cè)體或拆卸時(shí),必須保證高壓輸出“0” 及在“復(fù)位”狀態(tài).3.測(cè)試時(shí)儀器接地端與被測(cè)體要可靠相接,嚴(yán)禁開路.4.切勿將輸出地線與交流電源線短路,以免外殼帶電,造成危險(xiǎn).5.盡可能避免高壓輸出與地短路,以免發(fā)生意外.6.測(cè)試燈、超漏燈,一旦損壞,必須立即更換,以免造成誤判.