大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

為什么膜厚儀有時測量不準確?

強磁場的干擾。我們曾做過一個簡單實驗，當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時，測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發(fā)生死機現(xiàn)象。

人為因素。這種情況經(jīng)常會發(fā)生在新用戶的身上。膜厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化，并把它轉化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體，使磁通量發(fā)生變化造成錯誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時，要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響，在測量中應使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時間不宜過長，以免造成基體本身磁場的干擾。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體，使磁通量發(fā)生變化造成錯誤測量。