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技術(shù)發(fā)展史1941年,美國在滑石上漆上銅膏作配線,以制作近接信管。
1943年,美國人將該技術(shù)大量使用于收音機(jī)內(nèi)。
1947年,環(huán)氧樹脂開始用作制造基板。同時(shí)NBS開始研究以印刷電路技術(shù)形成線圈、電容器、電阻器等制造技術(shù)。
1948年,美國正式認(rèn)可這個(gè)發(fā)明用于商業(yè)用途。
自20世紀(jì)50年代起,發(fā)熱量較低的晶體管大量取代了真空管的地位,印刷電路版技術(shù)才開始被廣泛采用。而當(dāng)時(shí)以蝕刻箔膜技術(shù)為主流[1]。
新的開發(fā)項(xiàng)目要求更加復(fù)雜、更大的PCBA和更緊密的包裝。這些要求挑戰(zhàn)我們建造和測(cè)試這些單元的能力。更進(jìn)一步,具有更小元件和更高節(jié)點(diǎn)數(shù)的更大電路板可能將會(huì)繼續(xù)。例如,現(xiàn)在正在畫電路板圖的一個(gè)設(shè)計(jì),有大約116000個(gè)節(jié)點(diǎn)、超過5100個(gè)元件和超過37800個(gè)要求測(cè)試或確認(rèn)的焊接點(diǎn)。這個(gè)單元還有BGA在頂面與底面,BGA是緊接著的。使用傳統(tǒng)的針床測(cè)試這個(gè)尺寸和復(fù)雜性的板,ICT一種方法是不可能的。
在制造工藝,特別是在測(cè)試中,不斷增加的PCBA復(fù)雜性和密度不是一個(gè)新的問題。意識(shí)到的增加ICT測(cè)試夾具內(nèi)的測(cè)試針數(shù)量不是要走的方向,我們開始觀察可代替的電路確認(rèn)方法??吹矫堪偃f探針不接觸的數(shù)量,我們發(fā)現(xiàn)在5000個(gè)節(jié)點(diǎn)時(shí),許多發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤(少于31)可能是由于探針接觸問題而不是實(shí)際制造的缺陷(表一)。因此,我們著手將測(cè)試針的數(shù)量減少,而不是上升。盡管如此,我們制造工藝的品質(zhì)還是評(píng)估到整個(gè)PCBA。我們決定使用傳統(tǒng)的ICT與X射線分層法相結(jié)合是一個(gè)可行的解決方案。
1、pcba板浸錫時(shí)各錫點(diǎn)要浸的飽滿圓滑,各浸錫點(diǎn)不能有沒浸上錫和錫點(diǎn)浸的不滿等不良現(xiàn)象。
2、pcba板上各焊接點(diǎn)焊接時(shí),焊點(diǎn)用錫不要過多,否則會(huì)出現(xiàn)焊點(diǎn)過太、雍腫,同時(shí)各焊點(diǎn)焊接要圓滑不能有梭角,倒角及缺口,同時(shí)各焊點(diǎn)焊接必須牢固,不能有裂錫等不良現(xiàn)象。
3、pcba板不能有氧化,脫焊,虛焊,焊盤松脫,銅皮翹起,斷路,短路等不良現(xiàn)象。