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膜厚測(cè)試儀免費(fèi)咨詢,一六儀器

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發(fā)布時(shí)間:2020-08-16 11:54  







江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

X射線熒光光譜分析儀結(jié)構(gòu)及組成:用X射線照射式樣時(shí),試樣可以被激發(fā)出各種波長(zhǎng)的熒光X射線,需要把混合的X射線按波長(zhǎng)(或能量)分開,分別測(cè)量不同波長(zhǎng)(或能量)的X射線的強(qiáng)度,以進(jìn)行定性和定量分析,為此試用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定的波長(zhǎng),同事又有一定能量,因此,X射線熒光光譜儀有2種基本類型:波長(zhǎng)色散型(WD)和能量色散性(ED)。是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。

波長(zhǎng)色散型是由色散元件將不同波長(zhǎng)的特征X射線衍射到不同的角度上,探測(cè)器需移動(dòng)到想要的位置上來探測(cè)某一波長(zhǎng)能量的射線。而能量色散型,是由探測(cè)器本身的能量分辨本領(lǐng)直接探測(cè)X射線的能量。采用定量分析的時(shí)候,可以在樣品中加入高純度的二氧化硅,作為參比樣,并且摻量是已知的。波長(zhǎng)色散型譜線分辨本領(lǐng)高,而能量色散型可同時(shí)測(cè)量多條譜線的能量。


一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素   厚度檢出限:0.005um

江蘇一六儀器        X射線熒光測(cè)厚儀工作原理    

     當(dāng)原子受到X射線光子(原級(jí)X射線)或其他微觀粒子的激發(fā)使原子內(nèi)層電子電離而出現(xiàn)空位,原子內(nèi)層電子重新配位,較外層的電子躍遷到內(nèi)層電子空位,并同時(shí)出次級(jí)X射線光子,此即X射線熒光。較外層電子躍遷到內(nèi)層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級(jí)的能量差,因此,X射線熒光的波長(zhǎng)對(duì)不同元素是特征的,根據(jù)元素X射線熒光特征波長(zhǎng)對(duì)元素做定性分析,根據(jù)元素釋放出來的熒光強(qiáng)度,來進(jìn)行定量分析如元素厚度或含量分析。打開儀器高壓鑰匙,觀察軟件界面管流值不為0值且正常上升至1000左右5。

   根據(jù)色散方式不同,X射線熒光分析儀相應(yīng)分為X射線熒光光譜儀(波長(zhǎng)色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測(cè)、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級(jí)X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大,用水和油同時(shí)冷卻。色散單元的作用是分出想要波長(zhǎng)的X射線。它由樣品室、狹縫、測(cè)角儀、分析晶體等部分組成。激光輔助光自動(dòng)對(duì)焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能7計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置IBM計(jì)算機(jī):1。通過測(cè)角器以1∶2速度轉(zhuǎn)動(dòng)分析晶體和探測(cè)器,可在不同的布拉格角位置上測(cè)得不同波長(zhǎng)的X射線而作元素的定性分析。探測(cè)器的作用是將X射線光子能量轉(zhuǎn)化為電能,常用的有蓋格計(jì)數(shù)管、正比計(jì)數(shù)管、閃爍計(jì)數(shù)管、半導(dǎo)體探測(cè)器等。記錄單元由放大器、脈沖幅度分析器、顯示部分組成。通過定標(biāo)器的脈沖分析信號(hào)可以直接輸入計(jì)算機(jī),進(jìn)行聯(lián)機(jī)處理而得到被測(cè)元素的含量。


江蘇一六儀器   X射線熒光光譜測(cè)厚儀    一次性同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素

                                                      厚度di檢出限:0.005um

性能優(yōu)勢(shì)

精密的三維移動(dòng)平臺(tái)

的樣品觀測(cè)系統(tǒng)

先進(jìn)的圖像識(shí)別

輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)

四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)切換

雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞

采用大面積高分辨率探測(cè)器,有效降低檢出限,提高測(cè)試精度

全自動(dòng)智能控制方式,一鍵式操作!

開機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位

開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測(cè)試平臺(tái),方便放樣

關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦

直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)

點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕,自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果




江蘇一六儀器    X射線熒光光譜測(cè)厚儀

產(chǎn)品配置

X光金屬鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為:X射線管,正比計(jì)數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測(cè)器,高清攝像頭,高度激光,信號(hào)檢測(cè)電子電路。

性能指標(biāo)

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管,Be窗

標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等

X射線管:管電壓50KV,管電流1mA

可測(cè)元素:CI~U

檢測(cè)器:正比計(jì)數(shù)管

樣品觀察:CCD攝像頭

測(cè)定軟件:薄膜FP法、檢量線法

Z軸程控移動(dòng)高度 20mm



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