數字IC設計什么怎么進行的？

1、 需求分析。分析用戶或市場的需求，并將其翻譯成對芯片產品的技術需求。

2、 算法設計。設計和優(yōu)化芯片中所使用的算法。這一階段一般使用語言（如CC ），利用算法級建模和工具（如Matlab，SPW）進行浮點和定點的，進而對算法進行評估和優(yōu)化。

3、 架構設計。根據設計的功能需求和算法分析的結果，設計芯片的架構，并對不同的方案進行比較。選擇性能價格方案。這一階段可以使用SystemC語言對芯片價格進行建模和分析。

4、 RTL設計。使用HDL語言完成對設計實體的RTL級描述。這一階段使用VHDL或Verilog HDL語言的輸入工具編寫代碼。

2、 算法設計。設計和優(yōu)化

IC什么怎么設計的？

在 IC 生產流程中，IC 多由專業(yè) IC 設計公司進行規(guī)劃、設計，像是聯(lián)發(fā)科、高通、Intel 等大廠，都自行設計各自的 IC 芯片，提供不同規(guī)格、效能的芯片給下游廠商選擇。因為 IC 是由各廠自行設計，所以 IC 設計十分仰賴工程師的技術，工程師的素質影響著一間企業(yè)的價值。然而，工程師們在設計一顆 IC 芯片時，究竟有那些步驟？設計流程可以簡單分成如下。南橋芯片則提供對KBC(鍵盤控制器)、RTC(實時時鐘控制器)、USB(通用串行總線)、UltraDMA/33(66)EIDE數據傳輸方式和ACPI(能源管理)等的支持。

設計步，訂定目標

在 IC 設計中，的步驟就是規(guī)格制定。這個步驟就像是在設計建筑前，先決定要幾間房間、浴室，有什么建筑法規(guī)需要遵守，在確定好所有的功能之后在進行設計，這樣才不用再花額外的時間進行后續(xù)修改。FPGA是可編程門陣列，就是提前生產好的ASIC芯片，可以改配置文件，來實現(xiàn)不同的功能。IC 設計也需要經過類似的步驟，才能確保設計出來的芯片不會有任何差錯。

規(guī)格制定的步便是確定 IC 的目的、效能為何，對大方向做設定。接著是察看有哪些協(xié)議要符合，像無線網卡的芯片就需要符合 IEEE 802.11 等規(guī)范，不然，這芯片將無法和市面上的產品兼容，使它無法和其他設備聯(lián)機。VCS和Scirocco都集成了Virsim圖形用戶界面，它提供了對模擬結果的交互和后處理分析。后則是確立這顆 IC 的實作方法，將不同功能分配成不同的單元，并確立不同單元間鏈接的方法，如此便完成規(guī)格的制定。

設計完規(guī)格后，接著就是設計芯片的細節(jié)了。這個步驟就像初步記下建筑的規(guī)畫，將整體輪廓描繪出來，方便后續(xù)制圖。在 IC 芯片中，便是使用硬件描述語言（HDL）將電路描寫出來。Foundry廠都有對金屬密度的規(guī)定，使其金屬密度不要低于一定的值，以防在芯片制造過程中的刻蝕階段對連線的金屬層過度刻蝕從而降低電路的性能。常使用的 HDL 有 Verilog、VHDL 等，藉由程序代碼便可輕易地將一顆 IC 地菜單達出來。接著就是檢查程序功能的正確性并持續(xù)修改，直到它滿足期望的功能為止。

▲ 32 bits 加法器的 Verilog 范例。

有了計算機，事情都變得容易

有了完整規(guī)畫后，接下來便是畫出平面的設計藍圖。在 IC 設計中，邏輯合成這個步驟便是將確定無誤的 HDL code，放入電子設計自動化工具（EDA tool），讓計算機將 HDL code 轉換成邏輯電路，產生如下的電路圖。對電路的要求不同數電：是實現(xiàn)輸入輸出的數字量之間實現(xiàn)一定的邏輯關系。之后，反復的確定此邏輯閘設計圖是否符合規(guī)格并修改，直到功能正確為止。

數字集成電路電流測試

集成電路(IC)被生產出來以后要進行測試。IC測試貫穿在IC設計、制造、封裝及應用的全過程,被認為是IC產業(yè)的4個分支(設計、制造、封裝與測試)中一個極為重要的組成部分,它已經成為IC產業(yè)發(fā)展中的一個瓶頸。有人預計,到2012年,可能會有多達48%的好芯片不能通過測試,IC測試所需的費用將在IC設計、制造、封裝和測試的總費用中占80%～90%的比例。典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線（BathtubCurve）來表示。 工業(yè)界常采用電壓測試和穩(wěn)態(tài)電流(I_(DDQ))測試來測試數字CMOS IC。

電壓測試包括邏輯測試和時延測試兩方面的測試內容,前者驗證IC的功能是否正確,后者驗證IC的時間特性是否正確。電壓測試方法可以檢測出大量的物理缺陷,而且比較簡單,速度較快。但是,由于電壓測試所使用的故障模型存在局限性,而且測試常常不能全速進行,因此一般來說,電壓測試只善于驗證電路的功能。但是這兩種方式都不可能長時間發(fā)生，所以總的來說，芯片是會逐漸老化的。與電壓測試相比,(I_(DDQ))測試更善于檢測由于生產過程中的細微偏差而導致的一些“小”缺陷,它的優(yōu)點是能大幅度地降低測試數字CMOS IC的費用,提高它們的可靠性。但是,(I_(DDQ))測試除不能檢測那些不導致(I_(DDQ))增加的缺陷或故障(如串擾故障)之外,還受到深亞微米技術的挑戰(zhàn)。

 瞬態(tài)電流(I_(DDT))測試是一種從供電回路,通過觀察被測電路所吸取的瞬間動態(tài)電流來檢測故障的一種方法,被認為可以檢測出一些經電壓測試和(I_(DDQ))測試所不能檢測的故障。這種方法作為傳統(tǒng)的電壓測試和(I_(DDQ))測試方法的一個補充,正逐漸受到研究領域和工業(yè)界的關注。 (I_(DDT))測試研究雖然進行了近10年的時間,但目前仍處在初級階段,所面臨的問題很多,離實際應用還有相當一段距離。數字后端以布局布線為起點，以生成可以可以送交foundry進行流片的GDS2文件為終點。本研究采用基于積分的平均電流分析法來研究(I_(DDT))測試,進行了一些有益的探索性工作。