全自動(dòng)掃描電鏡對(duì)樣品的要求

1、試樣在高真空中能保持穩(wěn)定；

2、表面受到污染的試樣，要在不破壞試樣表面結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行適當(dāng)清洗，然后烘干。新斷開的斷口或斷面，一般不需要進(jìn)行處理，以免破壞斷口或斷面的結(jié)構(gòu)狀態(tài)；

　　有些試樣的表面、斷口需要進(jìn)行適當(dāng)?shù)那治g，才能暴露某些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，則在侵蝕后應(yīng)將表面或斷口清洗干凈，然后烘干。

3、全自動(dòng)掃描電鏡用的試樣大小要適合儀器樣品座的尺寸，不能過大，樣品座尺寸各儀器不均相同，以分別用來放置不同大小的試樣，樣品的高度也有一定的限制。

SEM掃描電子顯微鏡與透射電鏡的區(qū)別

透射掃描電子顯微鏡是用透過樣品的電子束讓其成像的電子顯微鏡，在一個(gè)高真空系統(tǒng)當(dāng)中，由電子發(fā)射電子束，穿過被研究的樣品，通過電子透鏡聚焦放大，在熒光屏上顯示出高度放大的物像，經(jīng)常使用于觀察那些用普通顯微鏡所不可以分辨的細(xì)微物質(zhì)結(jié)構(gòu)。

　　掃描電子顯微鏡是用電子探針對(duì)樣品表面掃描使其成像的電子顯微鏡。使用電子束在樣品表面掃描激發(fā)二次電子成像的電子顯微鏡。主要用于研究樣品表面的形貌還有成分。

　　透射電鏡和掃描電鏡區(qū)別簡單的來講就是：掃描電鏡是觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)特征，但是透射電鏡則是觀察樣品的內(nèi)部精細(xì)結(jié)構(gòu)。

掃描電子顯微鏡樣品的處理過程

主要包含表面的清潔、固定、漂洗以及脫水等過程，基本上和透射電鏡樣品的處理方法比較類似，但也有它特別的地方。

　　掃描電子顯微鏡樣品的處理過程點(diǎn)，樣品大?。核腥〉臉悠繁韧干潆婄R樣品稍微大一點(diǎn)，是八至十平方毫米，高大概是五毫米。

　　掃描電子顯微鏡樣品的處理過程第二點(diǎn)，清潔表面：清潔表面并且充分暴露樣品表面。經(jīng)常使用的清洗液有蒸餾水、生理鹽水、緩沖液還有含酶的清洗液等。

　　掃描電子顯微鏡樣品的處理過程第三點(diǎn)，固定和脫水：經(jīng)常使用的固定方法是-四氧化餓雙重固定，也可以用單固定法。

　　經(jīng)常使用的脫水劑是乙醇或者。脫水劑濃度梯度增加，從百分之三十或者百分之五十開始到進(jìn)行脫水；容易變形樣品脫水劑濃度梯度宜緩慢遞增。