一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

（一）、內(nèi)部結(jié)構(gòu)

   X熒光光譜測厚儀機(jī)型很多，但是其內(nèi)部結(jié)構(gòu)如果先天不足，后期的外部結(jié)構(gòu)無論自動(dòng)化多高，也無法完全滿足客戶需求。內(nèi)部結(jié)構(gòu)重要的3點(diǎn)：

1、X熒光發(fā)射和CCD觀測是否同步和垂直？

2、測試樣品是否可以變化測頭到樣品的距離？

3、X光照射面積從出口到樣品的擴(kuò)散情況。

（二）、各種內(nèi)部結(jié)構(gòu)的優(yōu)缺點(diǎn)

   1、X熒光發(fā)射和CCD觀測樣品只有同步且垂直才不會(huì)因?yàn)闃悠返母叩蜕顪\變化而改變測試到樣品的位置，才能保證定位精準(zhǔn)，同時(shí)減少與探測器或計(jì)數(shù)器的夾角，夾角小測試時(shí)

受樣品曲面或者傾斜影響小。

2、測試樣品距離可變化才能測試高低不平帶凹槽的樣品工件，同時(shí)也兼顧好平面樣品的測試。但是它需要配備變焦鏡頭和變焦

補(bǔ)償射線的算法。

3、X光照射面積從出口到樣品的擴(kuò)散過于嚴(yán)重會(huì)導(dǎo)致無法測試樣品工件上較小的平面位置，如果減小出口（準(zhǔn)直器直徑），又會(huì)嚴(yán)重耗損X光的強(qiáng)度。

因此一臺(tái)此類儀器的小準(zhǔn)直器不是關(guān)鍵，但是測試面積卻是個(gè)重要的指標(biāo)。

江蘇一六儀器    X熒光光譜測厚儀  專業(yè)涂鍍層測厚

應(yīng)用領(lǐng)域：廣泛應(yīng)用于線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測、鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析、手表、精密儀表制造行業(yè)、

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測、衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)、電鍍液的金屬陽離子檢測。

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜測厚儀    一次性同時(shí)分析：23層鍍層，24種元素

                                                      厚度di檢出限：0.005um

性能優(yōu)勢

精密的三維移動(dòng)平臺(tái)

的樣品觀測系統(tǒng)

先進(jìn)的圖像識別

輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測

四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換

雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無縫防撞

采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度

全自動(dòng)智能控制方式，一鍵式操作!

開機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位

開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測試平臺(tái)，方便放樣

關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測試平臺(tái)并自動(dòng)完成對焦

直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測試點(diǎn)

點(diǎn)擊軟件界面測試按鈕，自動(dòng)完成測試并顯示測試結(jié)果

江蘇一六儀器    選擇X熒光光譜鍍層檢測儀的四個(gè)理由：

1、無損檢測

      鍍層工藝的高要求，讓楔切法、光截法等傳統(tǒng)的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準(zhǔn)確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是excellent鍍層無損檢測方法。

2、強(qiáng)化品質(zhì)管控

     X熒光光譜鍍層檢測儀可以準(zhǔn)確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數(shù)據(jù)，這是做好電鍍品質(zhì)管控的前提。

3、提升生產(chǎn)力

      傳統(tǒng)的檢測技術(shù)，既耗時(shí)又耗人力，而X熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動(dòng)力，且檢測速度快、精度高，這對提高電鍍企業(yè)生產(chǎn)力、節(jié)約成本有很大幫助，從而帶來更多的經(jīng)濟(jì)效益。

4、提升市場競爭力

    X熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業(yè)提升勞動(dòng)生產(chǎn)力，也可以幫助電鍍企業(yè)在行業(yè)里保持excellent的競爭優(yōu)勢。