常用無損探傷方法

射線探傷(RT):射線通常指Χ射線、γ射線、α射線、β射線和中子射線等，其基本原理(圖1-1)：射線在穿過物質(zhì)的過程中，會受到物質(zhì)的散射和吸收作用，因物體材料、缺陷和穿透距離的不同，射線強度將產(chǎn)生不同程度的衰減，這樣，當(dāng)把強度均勻的射線照射到物體的一側(cè)，使透過的射線在物體另一側(cè)的膠片上感光，把膠片顯影后，得到與材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷相對應(yīng)的黑度不同的圖像，即射線底片。通過對圖像的觀察分析，終確定物體缺陷的種類、大小和分布情況。射線探傷適用于體積形缺陷探測。如氣孔、夾碴、縮孔、疏松等，對片形缺陷檢測較難。

什么叫無損檢測，從文字上面理解，無損檢測就是指在不損壞試件的前提下，對試件進行檢查和測試的方法。但是這并不是嚴(yán)格意義上的無損檢測的定義，對現(xiàn)代無損檢測的定義是：在不損壞試件的前提下，以物理或化學(xué)為手段，借助先進的技術(shù)和設(shè)備器材，對試件的內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)進行檢查和測試的方法。合肥四達歡迎您的咨詢，我們將竭誠為您服務(wù)。

在無損檢測技術(shù)發(fā)展過程中出現(xiàn)三個名稱，即：無損探傷(Non-destructive lnspction)，無損檢測(Non-destructive Testing)，無損評價( Non-destructive evaluation)。一般認(rèn)為，這三個名稱體現(xiàn)了無損檢測技術(shù)發(fā)展的三個階段，其中無損探傷是早期階段的名稱，其內(nèi)涵是探測和發(fā)現(xiàn)缺陷；無損檢測是當(dāng)前階段的名稱，其內(nèi)涵不僅僅是探測缺陷，還包括探測試件的一些其它信息。而無損評價則是即將進入或正在進入的發(fā)展階段，無損評價包涵更廣泛，更深刻的內(nèi)容，它不僅要求發(fā)現(xiàn)缺陷，探測試件的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)，還要求獲取更準(zhǔn)確的、綜合的信息。