廣州勱博——進(jìn)口激光衍射粒度分析儀

進(jìn)性與：Multisizer Series庫爾特計(jì)數(shù)及粒度分析儀用于美國(guó)NASA太空總署從月球上采集的土壤樣品的粒度分析及顆粒計(jì)數(shù)；LS Series 激光粒度儀用于美國(guó)NASA太空總署發(fā)射火星車的火箭i燃料成份的粒度控制的分析。產(chǎn)品已成為“高準(zhǔn)確性”、“高分辨率”的代名詞，在用戶中享有盛譽(yù)。在粒度分析行業(yè)發(fā)展中一直發(fā)揮著深遠(yuǎn)的影響力，更具有當(dāng)之無愧的領(lǐng)導(dǎo)地位。

   儀器能實(shí)時(shí)準(zhǔn)確地測(cè)量所在環(huán)境的微粒數(shù)量和分布，并進(jìn)行各種測(cè)量參數(shù)設(shè)定，如自動(dòng)實(shí)時(shí)顯示，粒徑選擇，定時(shí)、延i時(shí)和重復(fù)測(cè)量，平均測(cè)量。時(shí)間和日期設(shè)定、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和打印、計(jì)數(shù)超限報(bào)警等功能均由內(nèi)置微機(jī)控制和實(shí)現(xiàn)，可監(jiān)測(cè)激光粒子傳感器的工作狀態(tài)。

5個(gè)貼壁式全自動(dòng)噴涌嘴保證試品槽清理無殘留物。4級(jí)全自動(dòng)液位自動(dòng)控制系統(tǒng)保證試品槽持續(xù)保持精i確水位線。球型試品槽底端設(shè)計(jì)構(gòu)思、相互配合增壓離心水泵及下吸式抽樣方法，令試品槽無殘留物盲區(qū)、無抽樣誤差，保證試品顆粒物的象征性。立即聯(lián)接水資源及過濾裝置，由可控性壓閘閥自動(dòng)控制系統(tǒng)液體吸排，徹底自動(dòng)化技術(shù)，維持辦公環(huán)境清潔環(huán)境友好。

便攜式氣體顆粒計(jì)數(shù)器基本檢驗(yàn)：有利于閱讀文章高像素顯示信息頻是徹底能夠開展配備的，能夠選用清楚的字體大小值顯示信息你很感興趣的信息輕巧，適用無法瀏覽到的HEPA過濾裝置泄露場(chǎng)所：MET ONE HHPC 的凈重僅有1.5lbs，苗條的設(shè)計(jì)方案能夠?qū)?現(xiàn)單手模式。是能夠輕輕松松處理微自然環(huán)境和服務(wù)中心的過濾裝置泄露難題的完i美計(jì)劃方案。凈化室的等級(jí)分類：能夠迅速查驗(yàn)或認(rèn)證ISO 5級(jí)(FED STD 100級(jí))或更高的凈化室及其操縱自然環(huán)境。數(shù)據(jù)可視化的細(xì)顆粒物檢驗(yàn)發(fā)展趨勢(shì)：節(jié)省當(dāng)場(chǎng)剖析找到顆粒物泄露i點(diǎn)的時(shí)間、簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)連接：能夠應(yīng)用規(guī)范電腦瀏覽器 根據(jù)以太網(wǎng)接口將信息下i載到Exce表中。

粒度分析：提供0.017-2000um范圍顆粒粒度的體積％、表面積％、數(shù)量％的微分分布和累計(jì)分布，及D10、D50、D90、平均徑、中位徑、S.D等19種統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，使用范圍：各種無機(jī)或有機(jī)粉體和懸浮體，如催化劑、石墨、金屬粉末、礦物、過濾材料、粘合劑、合金、研磨劑、碳酸鹽、碳、水泥、稀土、陶瓷、粘土、化妝品、清潔劑、炸i藥與軍i火、光纖、薄膜（膠卷）、化肥、玻璃、食品添加劑、紙張、藥i物、顏料、拋光劑、聚合物、樹脂、橡膠、土壤與泥沙等許多方面。

分析原理：激光衍射；多波長(zhǎng)散射和偏振光（PIDS）：采用波長(zhǎng)：450nm（藍(lán)光）、600nm（橙光）、780nm（紅光）及900nm（紅外）/li>計(jì)算理論：全程Mie理論；Fraunhofer理論分析范圍(實(shí)測(cè)值)：多波長(zhǎng)：17nm-2000μm(實(shí)測(cè)值)單波長(zhǎng)：0.4μm-2000μm(實(shí)測(cè)值)準(zhǔn)確性誤差：小于 /- 0.5% 。重現(xiàn)性誤差：小于 /- 0.5%。i大檢測(cè)角度：1500。主要報(bào)告形式：粒徑一體積百分(重量百分?jǐn)?shù))分布；

貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個(gè)更高的水平，升級(jí)版PIDS專利技術(shù)（專利號(hào)：4953978；5104221）、優(yōu)化的132枚檢測(cè)器，保證了儀器分辨率更高，結(jié)果更準(zhǔn)確，再現(xiàn)性更好。您不僅可以測(cè)量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測(cè)到顆粒粒徑間極細(xì)微的差異。PIDS技術(shù)，真正實(shí)現(xiàn)10nm粒徑測(cè)量；新型的干、濕進(jìn)樣模塊，“即插即用”，滿足不同的分析要求，靈活便利。

廣泛適用于材料、化工、制藥、精細(xì)陶瓷、造紙、化妝品、冶金等行業(yè)以顆粒物作為生產(chǎn)原料或中間體的實(shí)驗(yàn)室分析和工業(yè)生產(chǎn)中質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域。WJL激光粒度儀具有結(jié)構(gòu)緊湊、體積小巧，操作簡(jiǎn)便等顯著特點(diǎn)，采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制運(yùn)用Mie散射理論測(cè)量方法。